[发明专利]测定方法

权利要求书

1.一种测定方法，对检测体中包含的特定的粒子状物质的量进行测定，其特征在于，

所述检测体还包含所述特定的粒子状物质以外的粒子状的夹杂物，

所述测定方法包含：

第1捕捉工序，使用第1空隙配置构造体，对所述特定的粒子状物质进行捕捉，所述第1空隙配置构造体具有相互对置的一对主面，并且具有贯穿两个主面的多个空隙部；

第2捕捉工序，使用第2空隙配置构造体，对所述粒子状的夹杂物进行捕捉，所述第2空隙配置构造体具有相互对置的一对主面，并且具有贯穿两个主面的多个空隙部，空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同；以及

测定工序，在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后，向所述第1空隙配置构造体照射电磁波以使得与所述第1空隙配置构造体的主面交叉，对由所述第1空隙配置构造体进行了散射的电磁波的特性进行检测，

所述第1捕捉工序在所述第2捕捉工序之后实施。

2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，

所述第1空隙配置构造体的空隙部的大小是所述特定的粒子状物质不能通过或者难以通过的大小。

3.根据权利要求1或2所述的测定方法，其特征在于，

所述第1空隙配置构造体的表面进行了修饰，使得所述特定的粒子状物质容易吸附。

4.根据权利要求1或2所述的测定方法，其特征在于，

所述第2空隙配置构造体的空隙部的大小是所述粒子状的夹杂物不能通过或者难以通过的大小、并且是所述特定的粒子状物质能够通过的大小。

5.根据权利要求1或2所述的测定方法，其特征在于，

所述第2空隙配置构造体的表面进行了修饰，使得所述粒子状的夹杂物容易吸附，并且使所述特定的粒子状物质难以吸附。

6.根据权利要求1或2所述的测定方法，其特征在于，

所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序通过下述操作实施，即，将所述第1空隙配置构造体以及所述第2空隙配置构造体串联地进行配置，使所述检测体从所述第2空隙配置构造体侧流过，从而通过所述第1空隙配置构造体以及所述第2空隙配置构造体。

7.根据权利要求1或2所述的测定方法，其特征在于，

所述检测体是液体或气体。

8.根据权利要求7所述的测定方法，其特征在于，

所述特定的粒子状物质是液体中的微生物或细胞，或者气体中的无机物、有机物或者它们的复合物。