[发明专利]测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种被测定物的测定方法。更详细而言，涉及一种测定方法，在具有空隙部的空隙配置构造体中保持被测定物，通过向该空隙配置构造体照射电磁波，对由空隙配置构造体进行了散射的电磁波的特性进行检测，从而测定被测定物的有无或者被测定物的量。

背景技术

以往，为了对物质的特性进行分析，使用下述测定方法，即，在空隙配置构造体中保持被测定物，向该保持了被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，对其透射频谱等进行解析而测定被测定物的有无或者被测定物的量。具体而言，例如，可举出向附着于金属网过滤器的蛋白质等被测定物照射太赫兹波并对透射频谱进行解析的方法。

作为使用了这种电磁波的透射频谱的解析方法的现有技术，专利文献1(日本特开2008-185552号公报)中公开了下述测定方法，即，朝着具有保持了被测定物的空隙区域的空隙配置构造体(具体而言，是网状的导体板)，相对于与空隙配置构造体的主面垂直的方向从倾斜方向照射电磁波，对透过了空隙配置构造体的电磁波进行测定，基于在测定值的频率特性中产生的谷波形(デイツプ波形)的位置由于被测定物的存在而移动，对被测定物的特性进行检测。

以往，在使用该测定方法对检测体中包含的被测定物进行测定的情况下，通常，首先从检测体中提取出被测定物，然后，在将提取出的被测定物保持在空隙配置构造体中的状态下，进行利用电磁波的测定。因此，在测定之前，需要另外的被测定物的提取工序，存在用于测定的作业工序增加的问题。

另外，例如，在使用滤膜等从液体或气体等检测体中过滤提取被测定物的情况下，需要利用转印等将提取出的被测定物转移到空隙配置构造体中的工序，但由于难以将提取出的被测定物全部移动到空隙配置构造体中，所以有时测定结果具有较大的偏差。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008-185552号公报

发明内容

发明要解决的课题

本发明鉴于上述情况，目的在于提供一种被测定物的测定方法，能够消除需要从检测体中提取被测定物的情况下的作业工序的增加、测定结果的偏差等问题，以简便的工序高精度地测定检测体中包含的被测定物。

用于解决课题的手段

本发明是一种测定方法，对由混合物构成的检测体中包含的至少1种被测定物的有无或被测定物的量进行测定，包含：

第1捕捉工序，使用第1空隙配置构造体，在所述第1空隙配置构造体中对作为所述被测定物的1种的第1被测定物进行捕捉，所述第1空隙配置构造体具有相互对置的一对主面，具有贯穿两个主面的多个空隙部；

第2捕捉工序，使用第2空隙配置构造体，对所述检测体中包含的所述被测定物以外的夹杂物、或者作为与所述第1被测定物种类不同的被测定物的第2被测定物进行捕捉，所述第2空隙配置构造体具有相互对置的一对主面，具有贯穿两个主面的多个空隙部，空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同；以及

测定工序，在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后，向所述第1空隙配置构造体、或者向所述第1空隙配置构造体及所述第2空隙配置构造体，照射电磁波，对由所述第1空隙配置构造体、或者由所述第1空隙配置构造体及所述第2空隙配置构造体进行了散射的电磁波的特性进行检测。

优选所述第1空隙配置构造体的空隙部的大小是所述第1被测定物不能通过或者难以通过的大小。另外，优选所述第1空隙配置构造体的表面进行了修饰，从而使所述第1被测定物容易吸附。

优选所述第1捕捉工序在所述第2捕捉工序之后实施。

优选所述第2空隙配置构造体的空隙部的大小是所述夹杂物或所述第2被测定物不能通过或者难以通过的大小、且是所述第1被测定物能够通过的大小。另外，优选所述第2空隙配置构造体的表面进行了修饰，从而使所述夹杂物或所述第2被测定物容易吸附，并且使所述第1被测定物难以吸附。

优选所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序通过下述操作实施，即，将所述第1空隙配置构造体以及所述第2空隙配置构造体串联地进行配置，使所述检测体从所述第2空隙配置构造体侧流过，从而通过所述第1空隙配置构造体以及所述第2空隙配置构造体。

优选所述检测体是液体或气体。另外，优选所述被测定物是液体中的微生物或细胞，或者气体中的无机物、有机物或者它们的复合物。

发明效果