[发明专利]校正辅助装置、弯曲系统及校正方法

说明书

一种校正辅助装置，是在具备具有挠性的细长形状的可挠部(21)和设于上述可挠部且构成为检测上述可挠部的弯曲量的弯曲检测部(22)的弯曲系统中使用的、用来辅助弯曲检测部(22)的校正的装置。校正辅助装置具备校正器(30)，该校正器(30)构成为：约束上述可挠部向沿着与上述可挠部的长轴垂直的第1轴的两个方向的变形及移动，并且，约束上述可挠部向沿着与上述长轴及上述第1轴垂直的第2轴的至少一个方向的变形及移动。

技术领域

本发明涉及辅助对细长形状的可挠部的弯曲量进行检测的检测器的校正的校正辅助装置、包括该校正辅助装置的弯曲系统以及校正方法。

背景技术

在具有例如内窥镜的插入部那样的细长形状的可挠部的弯曲系统中，有时为了推测可挠部的弯曲形状而对该可挠部设置为了检测弯曲量而构成的弯曲检测部。为了使这样的弯曲检测部正确地动作，需要进行弯曲检测部的校正。

例如在日本特开2003－070718号公报中，公开了一种电子内窥镜，其中，在插入部可挠管的轴线方向上隔开例如几厘米左右的间隔遍及插入部可挠管的全长设有例如5至30个程度的翘曲检测部。日本特开2003－070718号公报中，公开了沿着具有已知半径R的圆筒形卷筒的外周卷绕插入部可挠管来进行该翘曲检测部的校正的技术。

为了精度良好地检测可挠部的弯曲量，进行弯曲检测部的正确校正是重要的。例如，如在日本特开2003－070718号公报中公开的那样，当使用卷筒进行校正时，可挠部是沿着卷筒的外周的状态，例如在卷筒的圆周面上不被约束。即，例如在卷筒的圆周面上可挠部可能蜿蜒行进。如果在校正时存在可挠部的蜿蜒行进等，则有可能不能进行正确的校正。

发明内容

本发明的目的是提供一种用来进行正确的校正的校正辅助装置、弯曲系统及校正方法。

为了达到上述目的，根据本发明的一技术方案，一种校正辅助装置，在弯曲系统中使用，该弯曲系统具备具有挠性的细长形状的可挠部和设于上述可挠部且构成为检测上述可挠部的弯曲量的弯曲检测部，上述校正辅助装置用来辅助上述弯曲量的检测的校正，其特征在于，具备校正器，该校正器构成为：约束上述可挠部向沿着与上述可挠部的长轴垂直的第1轴的两个方向的变形及移动，并且，约束上述可挠部向沿着与上述长轴及上述第1轴垂直的第2轴的至少一个方向的变形及移动。

为了达到上述目的，根据本发明的一技术方案，一种弯曲系统，其特征在于，具备：细长形状的可挠部，具有挠性；弯曲检测部，设于上述可挠部，检测上述可挠部的弯曲量；校正器，构成为：约束上述可挠部向沿着与上述可挠部的长轴垂直的第1轴的两个方向的变形及移动，并且，约束上述可挠部向沿着与上述长轴及上述第1轴垂直的第2轴的至少一个方向的变形及移动；以及校正运算部，基于上述可挠部被上述校正器约束的状态下的上述弯曲检测部的输出和上述被约束的状态下的上述可挠部的形状，进行上述弯曲检测部的校正。

为了达到上述目的，根据本发明的一技术方案，一种校正方法，其特征在于，包括：通过校正器，约束具有挠性的细长形状的可挠部向沿着与上述可挠部的长轴垂直的第1轴的两个方向的变形及移动，并且，约束上述可挠部向沿着与上述长轴及上述第1轴垂直的第2轴的至少一个方向的变形及移动；在上述可挠部被上述校正器约束的状态下，取得弯曲检测部的输出，该弯曲检测部设于上述可挠部，并构成为检测上述可挠部的弯曲量；以及基于上述被约束的状态下的上述可挠部的形状和上述输出，进行上述弯曲检测部的校正。

根据本发明，由于可挠部被约束，所以能够提供一种能够进行正确的校正的校正辅助装置、弯曲系统及校正方法。

附图说明

图1是表示第1实施方式的内窥镜系统的结构例的框图。

图2A是用来对光纤传感器进行说明的图。

图2B是用来对光纤传感器进行说明的图。

图2C是用来对光纤传感器进行说明的图。