[发明专利]半导体集成电路及包括该半导体集成电路的数据接口系统

说明书

利用由第一电源IC(103)供给的电压而工作且在与外部存储器之间收发数据的半导体集成电路(101)具备：接口电路(105)，其接收由第二电源IC(112)供给的电压而工作且访问外部存储器以与外部存储器之间收发数据；判断电路(106)，其基于接口电路的访问结果来判断外部存储器与接口电路之间的AC定时，并基于所述AC定时生成控制第二电源IC的输出电压的控制信息；以及电压控制电路(108)，其按照控制信息控制第二电源IC的输出电压。

技术领域

本公开涉及一种半导体集成电路，特别涉及一种在与外部存储器之间收发数据的半导体集成电路。

背景技术

近年来，伴随着半导体集成电路的高性能化和高速化，半导体集成电路出现了功耗增大的趋势，另一方面，对其的低功耗化要求也增多。

通常，作为降低半导体集成电路的功耗的方法，可以举出对供向半导体集成电路的内部电路的电压进行动态控制的方法。

然而，如果向作为内部电路的、与外部存储器之间收发数据的接口(Interface，IF)电路供给的电源电压发生动态变化，则有时外部存储器与IF电路之间的交流(Alternate Current，AC)定时宽度会不充分，从而无法访问存储器。

专利文献1中公开了如下结构，即：在存储器控制装置中，当改变了存储器的结构、工作频率的情况下，系统启动时，在宽度为零且最低电压状态下开始存储器访问测试。

在该结构中，如果通过存储器访问测试而判断出不能访问存储器，则使电源电压升高后再次实施存储器访问测试。然后，如果判断出可以访问存储器，则将此时的电压作为可工作的最低电压来确定电源电压。此外，在即使电源电压变成最大值也难以访问存储器的情况下，以时钟为单位插入权值，并再次实施存储器访问测试。通过按照这种方式重复实施存储器访问测试，在存储器访问中所插入的权值就会是所需要的最小值。并且，由于在访问存储器的实际动作时所使用的电源电压被确定为最小值，因此能够实现访问存储器的高速化和低功耗化。

专利文献1：日本专利第4465539号说明书

发明内容

-发明所要解决的技术问题-

在进行通常的数据收发的状态下，如果对供向IF电路的电源电压进行动态控制，则IF电路的宽度伴随着电源电压的改变而发生变化，因此在针对外部存储器进行数据写入和读出时，AC定时在时间方向上移位或AC定时的宽度增减。由此，在现有的结构中，在IF电路内，数据的闩锁定时偏离AC定时宽度，从而不能确立与外部存储器之间的接口，因此可能会无法正常收发数据。

本公开是鉴于所述问题而完成的。其目的在于：提供一种对电源电压进行动态控制且能够正常地进行数据收发的半导体集成电路。

-用以解决技术问题的技术方案-

为了解决上述技术问题，根据本公开提供了一种如下所述的解决方案。即，利用从第一电源集成电路供给的电压而工作，并且与外部存储器之间收发数据的半导体集成电路具备：接口电路，所述接口电路接收从不同于所述第一电源集成电路的第二电源集成电路供给的电压而工作，并访问所述外部存储器，以与所述外部存储器之间收发数据；判断电路，所述判断电路基于所述接口电路的访问结果判断所述外部存储器与所述接口电路之间的交流定时，并基于该交流定时生成用于控制所述第二电源集成电路的输出电压的控制信息；以及电压控制电路，所述电压控制电路根据所述控制信息控制所述第二电源集成电路的输出电压。

根据上述方式，例如，在半导体集成电路启动时或通常工作时，能够基于外部存储器与接口电路的AC定时(timing)控制从第二电源IC供向接口电路的电压。由此，在外部存储器与接口电路之间进行数据收发的情况下，能够对第二电源IC的输出电压进行动态控制，使得数据的闩锁定时落在AC定时的范围内。即，在半导体集成电路中，能够一边对电源电压进行动态控制，一边进行正常的数据收发。