[发明专利]缺陷检查系统

权利要求书

1.一种缺陷检查系统，具备：

输送线，其输送长条带状的光学薄膜；

缺陷检查装置，其进行被上述输送线输送的光学薄膜的缺陷检查；以及

记录装置，其将基于上述缺陷检查的结果的缺陷信息记录于被上述输送线输送的光学薄膜，

上述记录装置具有：打印头，其通过向沿着上述光学薄膜的端缘部的记录区域喷出墨来打印上述缺陷信息；以及

罩，其防止墨附着于上述光学薄膜的至少比上述记录区域靠内侧的区域，

上述罩的与上述光学薄膜对置的面和上述光学薄膜的表面之间的间隔是1mm以下，

上述罩使在上述光学薄膜与上述打印头相对置的空间中面向上述光学薄膜的外侧这侧开放，

上述罩的下端部是沿着导辊的外形的形状。

2.根据权利要求1所述的缺陷检查系统，其中，

上述罩具有在上述光学薄膜与上述打印头相对置的空间中，至少覆盖面向上述光学薄膜的内侧的一侧的第一侧板部。

3.根据权利要求2所述的缺陷检查系统，其中，

上述罩具有在上述空间中，覆盖面向上述光学薄膜的输送方向的上游侧的一侧的第二侧板部、以及覆盖面向上述光学薄膜的输送方向的下游侧的一侧的第三侧板部。

4.根据权利要求3所述的缺陷检查系统，其中，

上述罩具有在上述空间中，覆盖面向上述光学薄膜的外侧的一侧的第四侧板部。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的缺陷检查系统，其中，

上述罩以拆装自如的方式被安装于上述打印头。

6.根据权利要求1所述的缺陷检查系统，其中，

上述罩以接近上述光学薄膜的状态与上述光学薄膜对置地配置，并且在面对上述记录区域的位置具有窗部。

7.根据权利要求1～4、6中任一项所述的缺陷检查系统，其中，

具备静电除去装置，其位于上述光学薄膜的输送方向上的比上述记录装置靠上游侧并对上述光学薄膜的表面除电。

8.根据权利要求5所述的缺陷检查系统，其中，

具备静电除去装置，其位于上述光学薄膜的输送方向上的比上述记录装置靠上游侧并对上述光学薄膜的表面除电。