[发明专利]粒子分析装置和粒子分析方法

权利要求书

1.一种粒子分析装置，包括：

光照射单元，所述光照射单元用激光照射在流径内流动的粒子；

光检测单元，所述光检测单元检测荧光或散射光或者所述荧光和所述散射光两者，从用所述激光照射的所述粒子发出所述荧光和所述散射光；以及

信号处理单元，所述信号处理单元处理所述荧光或所述散射光的检测信号或者所述荧光和所述散射光两者的检测信号，从所述光检测单元输出所述荧光和所述散射光，

所述光照射单元至少包括：

光源，所述光源产生激光，以及

激光检测器，所述激光检测器检测从所述光源发出的激光的一部分，

所述信号处理单元基于所述激光检测器中的检测结果来校正所述荧光或所述散射光的所述检测信号或者所述荧光和所述散射光两者的所述检测信号，

其中，所述信号处理单元根据所述激光检测器的输出波动来校正一个或多个所述检测信号，

其中，所述信号处理单元通过使来自所述光检测单元的输出电压乘以根据所述激光检测器的所述输出波动的幅度设置的增益来校正一个或多个所述检测信号，

其中，所述增益是通过使在任何时间的参考电压V_std除以在所述任何时间之后的时间的输出电压V_out所获得的值，由以下表达式表示：

Gain＝V_std/V_out

其中，所述任何时刻的参考电压V_std为该任何时刻的输出电压。

2.根据权利要求1所述的粒子分析装置，其中

所述光照射单元包括分束器，所述分束器朝向所述激光检测器反射所述激光的所述一部分。

3.根据权利要求1所述的粒子分析装置，其中

所述光照射单元包括光源驱动控制单元，所述光源驱动控制单元基于所述激光检测器中的检测结果来调整激光的输出，从所述光源发出所述激光。

4.一种粒子分析方法，包括以下步骤：

通过激光检测器检测从光源发出的激光的一部分；

检测荧光或散射光或者所述荧光和所述散射光两者，从用所述激光照射的粒子发出所述荧光和所述散射光；以及

通过信号处理单元基于所述激光检测器中的检测结果来校正所述荧光或所述散射光的检测信号或者所述荧光和所述散射光两者的检测信号，

其中，校正一个或多个所述检测信号的步骤包括根据所述激光检测器的输出波动来校正一个或多个所述检测信号，

其中，所述校正所述一个或多个检测信号的步骤包括通过使输出电压乘以根据所述激光检测器的所述输出波动的幅度设置的增益来校正一个或多个所述检测信号，从所述检测荧光或散射光或者所述荧光和所述散射光两者的步骤获得所述输出电压，

其中，所述增益是通过使在任何时间的参考电压V_std除以在任何时间之后的时间的输出电压V_out所获得的值，由以下表达式表示：

Gain＝V_std/V_out

其中，所述任何时刻的参考电压V_std为该任何时刻的输出电压。