[发明专利]粒子分析装置和粒子分析方法

说明书

提供一种粒子分析装置和一种粒子分析方法，其能够获得具有高可靠性的检测数据，而不执行高频叠加。一种粒子分析装置被配置成包括：光照射单元，所述光照射单元用激光照射在流径内流动的粒子；光检测单元，所述光检测单元检测荧光或散射光或者荧光和散射光两者，从用激光照射的粒子发出荧光和散射光；以及信号处理单元，所述信号处理单元处理荧光或散射光的检测信号或者荧光和散射光两者的检测信号，从光检测单元输出荧光和散射光，光照射单元包括至少：光源，所述光源产生激光；以及激光检测器，所述激光检测器检测从光源发出的激光的一部分，该信号处理单元基于激光检测器中的检测结果来校正荧光或散射光的检测信号或者荧光和散射光两者的检测信号。

技术领域

本技术涉及一种用于光学检测粒子的粒子分析装置和粒子分析方法。更具体地，本技术涉及一种提高粒子分析装置的检测精度的技术，以及一种用于检测从用光照射的粒子发出的荧光或散射光的粒子分析方法。

背景技术

为了辨别与生物相关的微粒(诸如细胞、微生物和脂质体)，使用流式细胞计(流式细胞仪)的光学检测方法被使用。流式细胞计为一种分析技术，其用于用特定波长的激光照射在流径内顺序流动的粒子并且检测从每个粒子发出的荧光或散射光，以辨别彼此的粒子。

同时，在流式细胞计中，由于来自粒子的流径、回光等的影响，激光的振荡波长以大约几十μs的量级波动。这导致从激光输出的光量的变化，并且这种变化被检测为噪声。这种噪声通常被称为“跳模噪声”并且成为检测数据变化或可靠性降低的原因。

流式细胞计具备激光输出调整系统(自动功率控制：APC)以便防止激光输出电平由于温度等的影响而波动。然而，APC的反馈控制被以大约几ms的量级执行，而无法处理以大约几十μs量级发生的跳模噪声。

在过去，高频叠加的使用已被提出作为减少跳模噪声并且使激光输出稳定的方法(参见专利文献1)。例如，在专利文献1中所描述的试样分析器中，提供在供给激光二极管的直流电上叠加高频分量的高频叠加电路，并且根据供给激光二极管的直流电的幅度来控制叠加在直流电上的高频波的振幅。

专利文献1：日本专利申请公开号2009-53020

发明内容

本发明要解决的问题

然而，使用高频叠加的激光输出稳定技术需要激光的高速闪烁以便改善效果。因此，峰值输出增加，并且有必要使用最大输出率为高的激光器，以减少平均输出等。此外，在这种情况下，高频叠加的振幅增加，并因此不必要的辐射也增加。

在这方面，本公开的主要目标为提供一种粒子分析装置和粒子分析方法，其能够获得具有高可靠性的检测数据，而不使用高频叠加。

解决问题的手段

根据本公开，提供一种粒子分析装置，包括：光照射单元，所述光照射单元用激光照射在流径内流动的粒子；光检测单元，所述光检测单元检测荧光或散射光或者荧光和散射光两者，从用激光照射的粒子发出荧光和散射光；以及信号处理单元，所述信号处理单元处理荧光或散射光的检测信号或者荧光和散射光两者的检测信号，从光检测单元输出荧光和散射光，光照射单元包括至少：光源，所述光源产生激光；以及激光检测器，所述激光检测器检测从光源发出的激光的部分，信号处理单元基于激光检测器中的检测结果来校正荧光或散射光的检测信号或者荧光和散射光两者的检测信号。

信号处理单元可以根据激光检测器的输出波动来校正一个或多个检测信号。

在这种情况下，信号处理单元可以通过使来自光检测单元的输出电压乘以根据激光检测器的输出波动的幅度设置的值(增益)来校正一个或多个检测信号。

另一方面，光照射单元可以包括分束器，所述分束器朝向激光检测器反射激光的一部分。

此外，光照射单元也包括光源驱动控制单元，所述光源驱动控制单元基于激光检测器中的检测结果来调整激光的输出，从光源输出激光。