[发明专利]基板检查装置

说明书

本发明涉及能够缩短检查时间、提高使用者便利性的基板检查装置。根据本发明一特征的基板检查装置包括：测量单元，其针对包括多个检查区域的检查基板，根据确定的测量顺序，测量多个检查区域，从而获得各检查区域的影像数据；控制部，其包括多个数据处理部及优化模块，所述多个数据处理部执行从测量单元传送的各检查区域的多个影像数据的数据处理，所述优化模块设置多个检查区域的优化的测量顺序及多个数据处理部的优化的数据处理顺序；及用户界面，其显示与通过优化模块而优化的测量顺序及数据处理顺序相关的优化相关信息。

技术领域

本发明涉及基板检查装置，更详细而言，涉及一种用于在缩短对包括多个检查区域的基板的检查时间的同时谋求使用者的便利的基板检查装置。

背景技术

一般而言，为了验证贴装了电子部件的印刷电路基板的可靠性，在电子部件的贴装前后，进行检查印刷电路基板的不良与否的检查工序。例如，在把电子部件贴装于印刷电路基板之前，进行检查对于印刷电路基板的焊盘区域的焊料涂布状态的SPI工序，及在把电子部件贴装于印刷电路基板后检查电子部件的贴装状态的AOI工序。

印刷电路基板的检查工序通过包括测量单元的基板检查装置实现，所述测量单元具备向基板照射光的照明部及拍摄基板的图像而获得图像数据的照相机。最近开发了一种三维基板检查装置，其利用照射栅格图案光的照明部，获得印刷电路基板的三维信息，由此能够提高印刷电路基板的检查可靠性。

另一方面，由于照相机的视野范围(Field Of View：FOV)已经限定，因此，为了检查大型尺寸的印刷电路基板，把印刷电路基板分割成多个检查区域而进行检查。因此，在使测量单元移动到多个检查区域的同时进行检查，从而发生检查时间增加的问题。

发明内容

解决的技术问题

因此，本发明正是鉴于这种问题而研发的，本发明提供一种能够使印刷电路基板的检查时间缩短、使检查工序的使用者便利性提高的基板检查装置。

技术方案

本发明一个特征的基板检查装置包括：测量单元，其针对包括多个检查区域的检查基板，根据确定的测量顺序，测量所述多个检查区域，从而获得各检查区域的影像数据；控制部，其包括多个数据处理部及优化模块，所述多个数据处理部执行从所述测量单元传送的所述各检查区域的多个影像数据的数据处理，所述优化模块设置所述多个检查区域的优化的测量顺序及所述多个数据处理部的优化的数据处理顺序；及用户界面，其显示与通过所述优化模块而优化的所述测量顺序及所述数据处理顺序相关的优化相关信息。

所述优化模块考虑所述测量单元的移动时间及所述各检查区域的影像数据的数据处理时间中至少一个，使对所述多个检查区域的测量顺序及所述多个数据处理部的数据处理顺序进行优化。

所述用户界面可以包括检查区域顺序图部，所述检查区域顺序图部显示所述多个数据处理部对所述各检查区域影像数据进行数据处理的数据处理顺序，其中所述各检查区域的多个影像数据根据通过所述优化模块而优化的测量顺序而获得。

所述检查区域顺序图部在x轴显示时间，在y轴显示所述多个数据处理部的序号，把所述各检查区域的影像数据的数据处理顺序显示为具有与数据处理时间对应长度的条形态的检查区域块。

所述检查区域顺序图部可以根据使用者的选择，把代表所述检查单元的移动时间的移动时间块显示于所述检查区域块的前端。

所述用户界面还可以包括条图部，所述条图部对所述检查区域的测量顺序，以块形态排列成一列进行显示。

所述用户界面还可以包括基板图像显示部，所述基板图像显示部对所述多个检查区域所显示的所述检查基板的图像进行显示。所述基板图像显示部可以对现在进行检查中或由使用者直接选择的检查区域进行加亮处理并显示。