[发明专利]用于3D多尺度显微术的具有集成微镜的微构造表面

权利要求书

1.一种用于对样品或样品的子组分进行横向照明的样品保持装置， 包括：支撑基底，所述支撑基底包括适于容纳所述样品并且与所述样品匹 配的样品孔，其中，所述孔设置在具有与所述样品孔相邻的成角度反射表 面的至少一个壁上，所述成角度反射表面在使用时引导来自光源的横向光 束通过所述样品孔中所容纳的样品，以向所述样品孔中容纳的样品提供基 本横向的照明，以及使用单个物镜对所述样品进行成像。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述孔包括两个成角度的反射 表面，其中所述表面基本彼此相对地布置并且限定其中放置所述样品的空 间。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述孔是包括两个成角度反射 表面的通道，其中所述表面基本彼此相对地布置并且限定其中放置所述样 品的空间。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的装置，其中所述第一成角度 的反射表面和/或所述第二成角度的反射表面的角度在20°+/-5％至 80°+/-5％之间。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述成角度反射表面在 44°+/-5％至46°+/-5％之间。

6.根据权利要求5所述的装置，其中所述成角度反射表面的角度为 45°+/-5％。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的装置，其中所述反射表面设 置为在一个或更多个所述成角度表面的全部或部分上的金属沉积物。

8.根据权利要求7所述的装置，其中所述反射表面包含金。

9.根据权利要求7所述的装置，其中所述反射表面包含铬。

10.根据权利要求7所述的装置，其中所述反射表面包含所沉积的金 属的混合物。

11.根据权利要求10所述的装置，其中所述混合物包含铬和金。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的装置，其中所述支撑基底 为全部不透明或部分不透明的。

13.根据权利要求1至11中任一项所述的装置，其中所述支撑基底 为全部透明或部分透明的。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的装置，其中所述支撑基底 是至少包含第一部分和第二部分的复合物，所述第一部分和第二部分至少 包含第一聚合物和第二聚合物，其中所述第一部分形成所述支撑基底的主 体并包含所述第一聚合物，所述第二部分形成样品孔并包含所述第二聚合 物。

15.根据权利要求14所述的装置，其中在与所述第二部分比较时， 所述第一部分具有较高的反射率。

16.根据权利要求14或15中任一项所述的装置，其中所述成角度反 射表面不包含所沉积的反射金属化表面，并且光片通过全内反射传播。

17.根据权利要求15或16所述的装置，其中所述第一部分的反射率 在1.40+/-5％与1.59+/-5％之间。

18.根据权利要求15至17中任一项所述的装置，其中所述第二部分 的折射率为1.33+/-5％。

19.根据权利要求1至18中任一项所述的装置，其中所述样品包含 一个或更多个细胞。

20.根据权利要求19所述的装置，其中所述一个或更多个细胞是活 的。

21.根据权利要求19所述的装置，其中所述一个或更多个细胞是经 固定的。

22.根据权利要求1至21中任一项所述的装置，其中所述装置包括 多个样品孔，所述多个样品孔具有相似或相同的尺寸并按阵列布置，并且 适于对所述样品孔中所容纳的样品依次或同时进行分析。

23.根据权利要求1至22中任一项所述的装置，其中所述装置由UV 可固化聚合物制造。

24.根据权利要求1至22中任一项所述的装置，其中所述装置由基 于丙烯酸酯的聚合物制造。