[发明专利]在多轮回编程中用于抑制读取噪声的双重验证方法有效

专利信息
申请号: 201480057047.X 申请日: 2014-09-22
公开(公告)号: CN105659328B 公开(公告)日: 2019-01-08
发明(设计)人: 迪潘舒·杜塔;大和田宪;佐野源毅;东谷政昭 申请(专利权)人: 桑迪士克科技有限责任公司
主分类号: G11C11/56 分类号: G11C11/56;G11C16/34;G11C16/12;G11C16/04;G11C16/10;G11C7/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王珊珊
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 轮回 编程 用于 抑制 读取 噪声 双重 验证 方法
【权利要求书】:

1.一种用于在存储器设备中进行编程的方法,包括:

在编程轮回中执行一个或更多个编程-验证迭代(PV),通过所述一个或更多个编程-验证迭代对存储器单元的集合(205)中的两个或更多个存储器单元(210,211)进行编程,直至所述两个或更多个存储器单元通过第一验证测试为止,所述两个或更多个存储器单元具有共同目标数据状态;

针对所述两个或更多个存储器单元执行一个或更多个附加验证测试;

基于所述一个或更多个附加验证测试的结果,确定所述两个或更多个存储器单元包括有噪声存储器单元(210)和无噪声存储器单元(211);以及

存储将所述有噪声存储器单元标识为有噪声以及将所述无噪声存储器单元标识为无噪声的数据。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,

所述两个或更多个存储器单元在所述编程轮回的最后的编程-验证迭代之后经受所述一个或更多个附加验证测试。

3.根据权利要求1或2所述的方法,还包括:

响应于所述两个或更多个存储器单元通过所述第一验证测试,在所述编程轮回中执行将所述两个或更多个存储器单元暂时地锁定以防止编程的一个或更多个编程-验证迭代,在所述两个或更多个存储器单元被暂时地锁定以防止编程的同时,所述两个或更多个存储器单元经受所述一个或更多个附加验证测试。

4.根据权利要求1或2所述的方法,还包括:

随后,响应于数据,执行对所述有噪声单元的附加编程,而不执行对所述无噪声单元的附加编程。

5.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述编程轮回处于一个编程操作中,所述方法还包括:

在后续编程操作期间,响应于数据,对所述存储器单元的集合进行编程,使得所述有噪声存储器单元保持于擦除状态。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述编程轮回是多轮回编程操作中的一个编程轮回,所述方法还包括:

在所述多轮回编程操作中的后续编程轮回期间,响应于数据,针对所述有噪声存储器单元比针对所述无噪声存储器单元使用更高严格程度来执行包括验证测试的一个或更多个编程-验证迭代。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,

针对所述有噪声存储器单元的验证测试的严格程度是所述目标数据状态的函数。

8.根据权利要求6所述的方法,其中,

根据所述更高严格程度,针对所述有噪声存储器单元的验证电压(VvA_noisy,VvB_noisy,VvC_noisy)高于针对所述无噪声存储器单元的验证电压(VvA,VvB,VvC)。

9.根据权利要求6所述的方法,其中,

根据所述更高严格程度,针对所述有噪声存储器单元的感测时间(t_noisy)长于针对所述无噪声存储器单元的感测时间(t_non_noisy),或者针对所述有噪声存储器单元的参考电流(Iref_noisy)低于针对所述无噪声存储器单元的参考电流(Iref_non_noisy)。

10.根据权利要求6至9中任一项所述的方法,其中,所述一个或更多个附加验证测试包括多个附加验证测试,所述方法还包括:

基于所述一个或更多个附加验证测试的结果,确定所述有噪声存储器单元的噪声程度,所述数据标识所述有噪声存储器单元的噪声程度,以及当所述有噪声存储器单元的噪声程度相对高时,针对所述有噪声存储器单元的验证测试相对更严格。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桑迪士克科技有限责任公司,未经桑迪士克科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480057047.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top