[发明专利]前加载样品制备设备及其方法

权利要求书

1.一种被配置成制备适用于X光衍射的材料样品(900’)的样品制备设备(6B)，包括：

碟形样品保持器底部(500)，其被配置成配合在环形样品保持器(400)内，所述碟形样品保持器底部(500)具有凹进的碟形表面(501)，该碟形表面被配置成在按压力下对样品材料(900)进行分布；

环形样品保持器(400)；

其中所述碟形样品保持器底部(500)被设置在所述环形样品保持器(400)内，且被配置成以活塞的方式在所述环形样品保持器(400)内移动；

其中所述碟形样品保持器底部(500)还包括密封环(510)，所述密封环(510)设置在所述环形样品保持器(400)的内表面(401)与所述碟形样品保持器底部(500)的外表面(505)之间。

2.如权利要求1所述样品制备设备(6B)，其中所述密封环(510)被布置在所述外表面(505)上所设置的保持凹槽(503)中，所述保持凹槽(503)包括多个凹槽表面(506)。

3.如权利要求1所述的样品制备设备(6B)，其中所述密封环(510)包括外凸缘(512)和内部分(513)。

4.如权利要求3所述的样品制备设备(6B)，其中所述密封环(510)还包括在所述外凸缘(512)与内部分(513)之间的凹部(511)。

5.如权利要求1所述的样品制备设备(6B)，其中所述环形样品保持器(400)还包括设置在其外表面(402)上的保持凹槽(403)，该保持凹槽(403)被配置成接收一个或多个保持卡爪(1204)。

6.如权利要求1所述的样品制备设备(6B)，其中所述碟形样品保持器底部(500)用于前加载处理，且其中所述样品制备设备(6B)被配置成通过所述前加载处理生产适用于X光衍射的材料样品(900’)。

7.一种用于制备适用于X光衍射的材料样品(900’)的方法，包括：

将样品材料(900)计量分配至碟形样品保持器底部(500)中，所述碟形样品保持器底部(500)被配置成配合在环形样品保持器(400)内，所述碟形样品保持器底部(500)具有适用于在按压力下对样品材料(900)进行分布的凹进碟形表面(501)；

轻按压所述样品材料(900)；以及

通过所述凹进碟形表面(501)而在所述碟形样品保持器底部(500)内对样品材料(900)进行分布；

其中计量分配的步骤包括在按压之前使平整装置(1000)与所述样品材料(900)接触，所述平整装置(1000)包括轴(1003)以及具有不同长度的多个指部(1010)。

8.如权利要求7所述的方法，其中计量分配的步骤还包括使用计量分配漏斗(1304)以将样品材料(900)置于所述碟形样品保持器底部(500)的中心部分。

9.如权利要求7所述的方法，其中轻按压的步骤还包括避免过度按压所述样品材料(900)。

10.如权利要求7所述的方法，其中轻按压的步骤还包括利用具有纹理或者平坦的冲头(1100)进行按压。

11.如权利要求7所述的方法，其中所有的步骤都是自动的，且是前加载处理的部分。

12.如权利要求7所述的方法，其中所述指部(1010)的远端(1030)在所述平整装置(1000)的径向外部分更加远离末端(1020)，且在所述平整装置(1000)的径向内部分更加接近末端(1020)。