[发明专利]用于光学相干断层扫描的光学探头及制作光学探头的方法在审

专利信息
申请号: 201480062935.0 申请日: 2014-10-24
公开(公告)号: CN105744896A 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 村岛清孝;平野充遥 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: A61B10/00 分类号: A61B10/00;A61B1/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 顾红霞;何胜勇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学 相干 断层 扫描 探头 制作 方法
【权利要求书】:

1.一种用于光学相干断层扫描的光学探头,包括:

光纤,其传输照射光和反射散射光;以及

透镜光纤,其与所述光纤的一端熔接在一起,所述透镜光纤在准直所述照射光的同时朝向待测量对象发射所述照射光,并将来自所述待测量对象的反射散射光收集且引导至所述光纤的所述一端,

其中,用于调节折射率的材料被添加至所述透镜光纤,并且所述材料在所述光纤的包括所述一端的端部中扩散。

2.根据权利要求1所述的用于光学相干断层扫描的光学探头,

其中,在所述光纤的所述一端与所述透镜光纤之间的边界部分处被反射的光在所述光纤的另一端测得的强度相对于所述光纤的所述一端与空气接触时的菲涅耳反射强度而言小于-60dB/nm。

3.根据权利要求2所述的用于光学相干断层扫描的光学探头,

其中,在所述边界部分处被反射的光的强度相对于所述菲涅耳反射强度而言为-80dB/nm以下。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于光学相干断层扫描的光学探头,

其中,随着距所述透镜光纤的距离减小,所述光纤的芯部区域的折射率逐渐地变为更接近所述透镜光纤的折射率。

5.一种制作根据权利要求1所述的用于光学相干断层扫描的光学探头的方法,所述方法包括:

将所述光纤的所述一端和所述透镜光纤熔接在一起并且通过利用熔接时所产生的热量来使包含在所述透镜光纤中的所述材料扩散到所述光纤的所述端部中的步骤,

其中,在所述步骤中,在所述光纤的所述另一端处测量在所述光纤的所述一端与所述透镜光纤之间的边界部分处被反射的光的强度的同时,将所述光纤的所述一端和所述透镜光纤熔接在一起。

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