[发明专利]用于光学相干断层扫描的光学探头及制作光学探头的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于光学相干断层扫描的光学探头及制作光学探头的方法。

背景技术

在FITEL(registeredtrademark)FusionSplicers&ToolsCatalog(FITEL(注册商标)熔接机&工具目录),FurukawaElectric,Volume4,September2010(非专利文献1)中描述了用于光纤的熔接机。通过将光纤的端部彼此对接且将这些端部热熔接在一起来使两根光纤彼此连接。在MichaelA.Choma,SensitivityadvantageofsweptsourceandFourierdomainopticalcoherencetomography(扫频光源和傅立叶域光学相干断层扫描的灵敏度优点),Opt.Express11,2183-2189(2003)(非专利文献2)中描述了光学相干断层扫描(OCT)的灵敏度。

发明内容

技术问题

本发明的目的在于提供一种用于光学相干断层扫描的光学探头及制作光学探头的方法，该光学探头可以减少光纤与透镜光纤之间的边界部分处产生的反射光。

解决技术问题的方案

为了实现该目的，本发明提供了一种用于光学相干断层扫描的光学探头，该光学探头包括：光纤，其传输照射光和反射散射光；以及透镜光纤，其与光纤的一端熔接在一起，透镜光纤在准直照射光的同时朝向待测量对象发射照射光，并将来自待测量对象的反射散射光收集且引导至光纤的一端。用于调节折射率的材料被添加至透镜光纤，并且材料在光纤的包括一端的端部中扩散。

在根据本发明的用于光学相干断层扫描的光学探头中，在光纤的一端与透镜光纤之间的边界部分处被反射的光在光纤的另一端测得的强度相对于光纤的一端与空气接触时的菲涅耳反射强度而言可以小于-60dB/nm，可以为-70dB/nm以下或可以为-80dB/nm以下。在根据本发明的用于光学相干断层扫描的光学探头中，随着距透镜光纤的距离减小，光纤的芯部区域的折射率可以逐渐地变为更接近透镜光纤的折射率。

根据本发明的另一个方面，提供了一种制作用于光学相干断层扫描的光学探头的方法，该方法包括将光纤的一端和透镜光纤熔接在一起并且通过利用熔接时所产生的热量来使包含在透镜光纤中的材料扩散到光纤的端部中的步骤。在该步骤中，在光纤的另一端处测量在光纤的一端与透镜光纤之间的边界部分处被反射的光的强度的同时，将光纤的一端和透镜光纤熔接在一起。

本发明的有益效果

利用根据本发明的用于光学相干断层扫描的光学探头及制作光学探头的方法，可以减少光纤与透镜光纤之间的边界部分处产生的反射光。

附图说明

图1是包括根据本发明实施例的用于OCT的光学探头的OCT系统的概念图。

图2是根据本发明实施例的用于OCT的光学探头的概念图。

图3示出了表示光纤和透镜光纤的折射率分布的典型实例的曲线图。

图4中的(a)是示出了光纤的端部与透镜光纤之间的边界部分附近的结构的概念图。图4中的(b)是表示光纤的端部和透镜光纤的沿着光轴的折射率分布的曲线图。

图5是表示光纤与透镜光纤之间的边界部分处的反射光强度的曲线图。

图6是表示光纤与透镜光纤之间的边界部分处的反射光强度的曲线图。

图7是表示光纤与透镜光纤之间的边界部分处的反射光强度的曲线图。

图8是表示在光纤与透镜光纤未熔接在一起时来自光纤端面的反射光的强度的曲线图。

图9示出了OCT测量图像。

图10示出了OCT测量图像。

图11示出了OCT测量图像。

图12示出了表示进行折射率差减小处理时的信号光强度的曲线图。

图13示出了表示没有进行折射率差减小处理时的信号光强度的曲线图。

图14中的(a)至图14中的(c)示出了分别与图12的曲线G11至G13对应的OCT测量图像。

图15中的(a)至图15中的(c)示出了分别与图13的曲线G21至G23对应的OCT测量图像。

图16是示出了在制作光学探头的过程中将光纤和透镜光纤熔接在一起的步骤的概念图。

具体实施方式