[发明专利]光学特性的测定用设备在审
| 申请号： | 201480063352.X | 申请日： | 2014-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN105723199A | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 小林茂 | 申请（专利权）人： | 泰科电子日本合同会社 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 何欣亭;姜甜 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 特性 测定 设备 | ||
【权利要求书】：
1.一种光学特性的测定用设备，其特征在于，具备：
光源，出射测定光；
光纤，具备一端侧和另一端侧，所述测定光从所述一端侧入射；以及
出射端，与所述光纤的所述另一端侧连接，出射所述测定光，
对所述光纤入射能得到与所述光纤的稳态模激励造成的插入损耗Lα对应的插入损耗Lβ的数值孔径NAβ的所述测定光。
2.如权利要求1所述的光学特性的测定用设备，其中，
所述数值孔径NAβ包括在使所述插入损耗Lβ与所述插入损耗Lα一致、或者对所述插入损耗Lα加上既定余量的范围。
3.如权利要求1所述的光学特性的测定用设备，其中，
所述光纤在所述数值孔径NAβ的所述测定光入射到所述光纤时，
实现与所述稳态模激励造成的光的分布状态同等的光的分布状态。
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