[发明专利]光学特性的测定用设备

说明书

技术领域

本发明涉及适合测定以光连接器为代表的光纤部件的光学特性的设备。

背景技术

光纤分为通过多种模式的多模光纤（Multimodeopticalfiber）和仅通过单一模式的单模光纤（Singlemodeopticalfiber）。多模光纤分为芯内的折射率分布均匀的阶梯折射率（SI）型光纤和芯内的折射率分布缓慢变化的梯度折射率（GI）型光纤。

SI型光纤在产业领域、汽车领域得到广泛使用。

包括SI型光纤在内，关于多模光纤其本身的插入损耗的实验方法，由JISC6823规定。然而，该损耗实验方法也如专利文献1公开那样，以使用充分长的光纤为前提，但是流通的光纤中满足该前提并不是容易的。

另一方面，关于构成包含光纤的光传输路所需要的光纤部件例如光连接器，也与光纤同样需要测定包括插入损耗在内的光学特性。关于SI型光纤所使用的光连接器的插入损耗，规定在JISC5961。然而，即便遵照JISC5961而进行测定，每次测定的结果也有不同，在测定结果中得不到再现性是常发生的。通常，测定是使测定光入射到与光连接器连接的光纤而进行的，但是每次测定时因各种因素而光纤内的光分布的状态未必会相同，这就是原因。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007－46973号公报。

发明内容

发明要解决的课题

为了使光纤内的光分布状态稳定，在测定时适用稳态模激励即可，这样就能得到测定结果的再现性。然而，为了实现该再现性，依然需要充分长的光纤。作为一个例子，如果为塑料包层多模光纤，则需要2km以上的长度。然而，市售的光纤长也就数百m左右，因此事实上进行稳态模激励下的测定是有困难的。

本发明基于这样的技术课题而构思，目的在于提供不用非常长的光纤而能再现性良好地得到插入损耗的测定结果的光学特性的测定用设备。

用于解决课题的方案

在有关目的下，本发明的光学特性的测定用设备，其特征在于具备：光源，出射测定光；光纤，具备一端侧和另一端侧，测定光从一端侧入射；以及出射端，与光纤的另一端侧连接，对光纤入射能得到与光纤的稳态模激励造成的插入损耗L_α对应的插入损耗L_β的数值孔径NA_β的测定光。

依据本发明人的研究，装接连接器（launchconnector）中的插入损耗L_β与测定光（入射光）的NA（数值孔径）处于比例关系。于是，本发明人着眼于以下情形，即，如果利用该特性而使用能得到与稳态模激励造成的插入损耗L_α一致的插入损耗L_β的NA，就有可能在光纤再现稳态模激励造成的光的分布状态。

在本发明的测定用设备中，数值孔径NA_β使得插入损耗L_β与插入损耗L_α一致，这对在光纤再现稳态模激励造成的光的分布状态而言最优选的。然而，考虑偏差，例如设置±15％的余量，在该范围内设定数值孔径NA_β也可。

以上的本发明的测定用设备，在供测定时，若数值孔径NA_β的测定光入射光纤，则能够在光纤再现能够测定到与稳态模激励造成的光的分布状态同等的插入损耗L_β的光的分布状态。

发明效果

依据本发明的测定设备，无需使用非常长的光纤而能够在光纤再现能够测定到与稳态模激励造成的光的分布状态同等的插入损耗L_β的光的分布状态，因此能够再现性良好地得到光学特性、插入损耗的测定结果。

附图说明

图1示出本实施方式中的测定用设备，（a）示出其概略结构，（b）、（c）示出插入损耗的测定步骤的概要。

图2示出本实施方式中的测定用设备的变形例。

图3是示出入射光的NA和装接连接器中的插入损耗L_β处于比例关系的实验结果。

图4是示出各个光纤的稳态模激励造成的插入损耗、入射光的NA和装接连接器中的插入损耗的关系的例子的表。

图5是将图4的例子显示在测定用设备的结构上的图。

具体实施方式

以下，基于附图所示的实施方式，详细说明本发明。