[发明专利]具有隔层的有机x射线检测器

权利要求书

1.一种有机x射线检测器，包括：

设置在基底上的TFT阵列；

设置在所述TFT阵列上的有机光电二极管层；

设置在所述TFT阵列与所述有机光电二极管层之间的第一电极；

设置在所述光电二极管层上的隔层，所述隔层包括至少一种无机材料；

夹在所述隔层与所述光电二极管层之间的平面化层，所述平面化层包含聚碳酸酯，环氧聚合物或丙烯酸基材料；

设置在所述光电二极管层与所述平面化层之间的第二电极，所述第二电极进一步设置在光电二极管的边缘部分上；以及

设置在所述隔层上的闪烁体层。

2.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述隔层进一步设置在所述TFT阵列或所述基底上。

3.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述第二电极进一步设置在所述TFT阵列或所述基底上。

4.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述至少一种无机材料包括氧化铟锡、氧化硅、氮化硅和氧化铝中的至少一者。

5.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述隔层包括至少一种有机材料。

6.根据权利要求5所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述有机材料包括聚对二甲苯、硅氧烷、二甲苯、烯烃、苯乙烯、有机硅烷、有机硅氮烷和有机硅酮中的至少一者。

7.根据权利要求5所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述隔层包括至少一组交错的有机材料层和无机材料层。

8.根据权利要求5所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述隔层包括分级的有机层和无机层。

9.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述隔层对于可见光基本透明。

10.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，还包括闪烁体层与所述隔层之间的粘合层。

11.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，还包括设置在所述闪烁体层上的附加隔层。

12.根据权利要求1所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述基底为柔性的。

13.一种有机x射线检测器，包括：

设置在基底上的TFT阵列；

设置在所述TFT阵列上的第一电极；

设置在所述第一电极上的有机光电二极管层；

设置在有机光电二极管层上的第二电极，所述第二电极进一步设置在有机光电二极管的边缘部分上；

设置在所述第二电极上的平面化层；

设置在所述平面化层上的隔层；

设置在所述隔层上的粘合层；

设置在所述粘合层上的闪烁体层；以及

设置在所述闪烁体层上的附加隔层，其中

所述隔层和所述附加隔层包括至少一种无机材料，其中所述平面化层包含聚碳酸酯，环氧聚合物或丙烯酸基材料。

14.根据权利要求13所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述第二电极进一步设置在所述TFT阵列或所述基底上。

15.根据权利要求13所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述第二电极设置在所述TFT阵列和所述基底上。

16.根据权利要求15所述的有机x射线检测器，其特征在于，所述隔层电联接至所述第二电极。