[其他]检测用构造体有效

专利信息
申请号: 201490000517.4 申请日: 2014-02-07
公开(公告)号: CN205175893U 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 神波诚治;近藤孝志 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/3581
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 韩聪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检测 构造
【权利要求书】:

1.一种检测用构造体,是在检测照射电磁波的情况下的因有无保持 被测定物所引起的谐振特性的变化来检测被测定物的方法中所利用的检 测用构造体,

所述检测用构造体的特征在于,具备:

板状的基底部,其具有在厚度方向上对置的第1主面以及第2主面; 和

周期性构造体部,其设置在所述基底部的第1主面,

所述周期性构造体部具有在所述基底部的第1主面的面方向上周期 性地配置的单位构造,该单位构造具有在所述厚度方向上或者在相对于该 厚度方向而斜向地交叉的方向上延伸的厚度方向面。

2.根据权利要求1所述的检测用构造体,其特征在于,

所述周期性构造体部和所述基底部由相同的材料一体地构成。

3.根据权利要求1所述的检测用构造体,其特征在于,

所述周期性构造体部和所述基底部由单独的部件构成。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的检测用构造体,其特征在于,

在所述单位构造中设有多个所述厚度方向面,该多个面被组合而形成 在与所述基底部相反的一侧敞开的一个开口,在该开口露出的底部由所述 第1主面构成。

5.根据权利要求1~3中任一项所述的检测用构造体,其特征在于,

在所述单位构造中设有多个所述厚度方向面,该多个面在与所述基底 部相反的一侧的端部被集合,该单位构造具有从所述第1主面突出的形 状。

6.根据权利要求4所述的检测用构造体,其特征在于,

所述单位构造中的具有所述开口和所述底部的形状是朝向与所述基 底部相反的一侧的面敞开的凹部,该凹部为截棱锥状。

7.根据权利要求5所述的检测用构造体,其特征在于,

所述单位构造为长方体状。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的检测用构造体,其特征在于,

所述基底部由导体构成。

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