[其他]检测用构造体有效

专利信息
申请号: 201490000517.4 申请日: 2014-02-07
公开(公告)号: CN205175893U 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 神波诚治;近藤孝志 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/3581
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 韩聪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检测 构造
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及具有通过照射电磁波来谐振的构造的检测用构造体, 更详细而言,涉及根据有无保持被测定物而谐振特性变化的检测用构造 体。

背景技术

以往,已知通过向空隙配置构造体照射太赫兹波这样的电磁波由此来 检测被测定物的方法。在下述的专利文献1中,公开了这种检测方法中所 利用的空隙配置构造体。在专利文献1所记载的空隙配置构造体中,利用 的是空隙周期性配置的空隙配置构造体薄片。由于该空隙配置构造体薄片 较薄,因此在空隙配置构造体薄片的背面侧隔出空洞而通过连结部件来接 合基板材。由此,厚度薄的空隙配置构造体薄片被加强。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:WO2012/132111

实用新型内容

实用新型所要解决的课题

在专利文献1所记载的空隙配置构造体中,必须利用连结部件将基板 材与空隙配置构造体薄片接合。因而,制造工序较为繁杂。此外,还具有 成本高昂的问题。进而,由于是隔开上述空洞地将基板材与薄的空隙配置 构造体薄片连结的构造,因此加强效果也不充分。

本实用新型的目的在于,提供一种能够提高强度、且制造容易、低廉 的检测用构造体。

用于解决课题的手段

本实用新型所涉及的检测用构造体是在检测照射电磁波的情况下的 因有无保持被测定物所引起的谐振特性的变化来检测被测定物的方法中 所利用的检测用构造体。

本实用新型所涉及的检测用构造体具备:板状的基底部,其具有在厚 度方向上对置的第1主面以及第2主面;和周期性构造体部,其被设置在 所述基底部的第1主面。

所述周期性构造体部具有在所述基底部的第1主面的面方向上周期 性配置的单位构造。该单位构造具有在所述厚度方向上、或者在相对于该 厚度方向而斜向地交叉的方向上延伸的厚度方向面。

在本实用新型所涉及的检测用构造体中,所述周期性构造体部和所述 基底部也可以由相同的材料一体地构成。

此外,在本实用新型所涉及的检测用构造体中,周期性构造体部和基 底部也可以由单独的部件来构成。

在本实用新型所涉及的检测用构造体的其他特定局面,在所述周期性 构造体的单位构造中设有多个所述厚度方向面,该多个面被组合而形成在 与所述基底部相反的一侧敞开的一个开口,在该开口露出的底部由所述第 1主面构成。

在本实用新型所涉及的检测用构造体的进一步的另一特定局面,在所 述周期性构造体的单位构造中设有多个所述厚度方向面,该多个面在与所 述基底部相反的一侧的端部被集合,该单位构造具有从所述第1主面突出 的形状。

在本实用新型所涉及的检测用构造体的进一步的又一特定局面,所述 单位构造中的具有所述开口和所述底部的形状是朝向与所述基底部相反 的一侧的面敞开的凹部,该凹部为截棱锥状。

在本实用新型所涉及的检测用构造体的进一步的另一特定局面中,所 述单位构造为长方体状。

在本实用新型所涉及的检测用构造体中,优选上述基底部由导体构 成。

实用新型的效果

根据本实用新型所涉及的检测用构造体,能够充分地提高检测用构造 体的强度。而且,制造工序也不会变得繁杂,因此能够降低检测用构造体 的成本。

附图说明

图1(a)以及图1(b)是表示本实用新型的第1实施方式所涉及的 检测用构造体的立体图及其主要部分的侧面剖视图。

图2是本实用新型的第1实施方式所涉及的检测用构造体的周期性构 造体部的单位构造的从外表面观察到的图。

图3是表示本实用新型的第1实施方式所涉及的检测用构造体中的照 射电磁波时的反射波的频率特性的图。

图4是本实用新型的第2实施方式所涉及的检测用构造体的立体图。

图5(a)以及图5(b)是第2实施方式所涉及的检测用构造体中的 周期性构造体部的单位构造的从第1主面侧观察到的图以及侧视图。

图6是表示利用第2实施方式所涉及的检测用构造体的情况下的电磁 波的反射谱的图。

图7是第3实施方式所涉及的检测用构造体的立体图。

图8是第4实施方式所涉及的检测用构造体的立体图。

图9是第5实施方式所涉及的检测用构造体的立体图。

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