[发明专利]磁场旋转检测传感器以及磁编码器有效

专利信息
申请号: 201510009026.7 申请日: 2015-01-08
公开(公告)号: CN104764397B 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 小野寺孝志;远藤广明;中村德男;野口贵史 申请(专利权)人: 阿尔卑斯电气株式会社
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 房永峰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁场 旋转 检测 传感器 以及 编码器
【说明书】:

技术领域

本发明涉及磁场旋转检测传感器以及磁编码器,特别是涉及能够检测从旋转的磁铁产生的磁场的角度的磁场旋转检测传感器以及磁编码器。

背景技术

在下述专利文献1中,公开了用于对旋转的磁铁的角度进行检测的角度检测装置。图10A是在下述专利文献1所记载的以往例的角度检测装置中使用的磁传感器的俯视图,图10B是以往例的角度检测装置的侧视图。

如图10A所示,磁传感器120具有4个磁电阻效应元件对122a~122d而构成,4个磁电阻效应元件对122a~122d分别由固定磁性层的磁化方向朝向相同方向2个磁电阻效应元件构成。磁传感器120中,磁电阻效应元件对122a与磁电阻效应元件对122d连接而形成第一电桥电路,磁电阻效应元件对122b与磁电阻效应元件对122c连接而形成第二电桥电路。如图10A所示,将构成电桥电路的磁电阻效应元件对122a和磁电阻效应元件对122d连结的假想线、与将磁电阻效应元件对122b和磁电阻效应元件对122c连结的假想线在传感器中心125交叉,磁电阻效应元件对122a~122d相互配置在对角线上。

并且,如图10B所示,磁传感器120相对于磁铁115的旋转平面(XY平面)以角度φ倾斜而配置。由此,从磁铁115产生的磁场与磁传感器120的感磁面交叉,能够使作用于磁电阻效应元件对122a~122d的磁场的x成分的大小与y成分的大小不同。因而,磁传感器120的输出接近于三角波形状,从而使输出的直线性提高,能够高精度地检测磁铁115的旋转角度。

此外,下述专利文献2公开了在圆环状的磁铁的内周侧配置有磁传感器的磁场旋转检测装置。根据专利文献2所记载的磁场旋转检测装置,通过使构成2个电桥电路的多个磁电阻效应元件间的中心与磁铁的中心一致地进行配置,能够提高检测精度。

专利文献1:国际公开第2010/098472号

专利文献2:日本专利第4117175号公报

但是,专利文献1所记载的以往例的角度检测装置110中,将磁传感器120相对于磁铁115的旋转平面倾斜配置是困难的,适用于配置方法或空间受限的产品时会产生制约较大的课题。

图11是表示以往例的角度检测装置的检测角度及检测角度误差的曲线图。图11示出了图10B所示的磁铁115与磁传感器元件120之间的角度φ为0°的情况,即将磁传感器120平行地配置在磁铁115的旋转平面内的情况。

如图11所示,理论上的检测角度表示与磁铁115的旋转角相同的值而成为直线。但是,实测的检测角度相对于理论值产生误差。另外,检测角度误差中,包含从磁铁115产生的磁场自身的角度偏差和磁传感器120的误差成分。

在以往例的角度检测装置110中,在磁传感器元件120面内,产生从磁铁115产生的磁场的方向的偏差。如图10A所示,构成2个电桥电路的磁电阻效应元件对122a~122d相互配置在对角线上,例如,存在作用于磁电阻效应元件对122a及磁电阻效应元件对122d的磁场的方向、与作用于磁电阻效应元件对122b及磁电阻效应元件对122c的磁场的方向不同的情况。在这样的情况下,无法消除来自2个电桥电路的输出的误差成分,产生由磁场方向的偏差引起的检测角度误差。因此,如图11所示,产生如下课题:在磁铁的旋转角为正的情况和为负的情况下误差的绝对值的大小不同,旋转角的检测范围整体的误差变大。

此外,在专利文献2所记载的以往例的角度检测装置中,在产生磁传感器的位置偏差而与磁铁的中心位置不一致的情况等、作用于各磁电阻效应元件的磁场方向产生了偏差的情况下,与图11所示的曲线图同样,产生因磁铁的旋转方向的差异而误差的大小不同、误差的绝对值变大的课题。

发明内容

发明所要解决的问题

本发明解决上述课题,目的在于提供一种能够抑制检测角度的误差的磁场旋转检测传感器以及磁编码器。

用于解决问题的手段

本发明是对磁铁的旋转进行检测的磁场旋转检测传感器,其特征在于,具有构成第一电桥电路的多个第一磁传感器元件和构成第二电桥电路的多个第二磁传感器元件,上述多个第一磁传感器元件的灵敏度轴与上述多个第二磁传感器元件的灵敏度轴朝向相互正交的方向,上述多个第一磁传感器元件配置在上述多个第二磁传感器元件的内侧。

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