[发明专利]有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法

权利要求书

1.一种有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法，其特征在于所述实验方法包括以下步骤：

（1）将被测试的电子设备放置在有界波模拟器内，示波器放置在有界波模拟器外，示波器通过同轴电缆与被测试电子设备的信号输出端连接；

（2）按照电磁强度由低到高将有界波模拟器的内部分为若干个区域，分别为测试一区、测试二区、测试三区…依次类推；

（3）首先将被测试的电子设备放置在测试一区内，将测试一区作为起始测试区域，使其与地面平行，控制有界波模拟器以一定电场强度辐照若干次，通过示波器记录每次的辐照波形和电磁环境效应现象，按照电磁强度由低到高改变被测试电子设备所在的测试区域，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应则进入步骤（4）；

（4）将测试一区作为起始测试区域，改变电子设备与地面水平夹角，控制有界波模拟器以一定电场强度辐照若干次，通过示波器记录每次的辐照波形和电磁环境效应现象，按照电磁强度由低到高改变被测试电子设备所在的测试区域，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应，则进入步骤（5）；

（5）将测试二区作为起始测试区域，重复步骤（3）和步骤（4）中的测试步骤，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应，则进入步骤（6）；

（6）将测试三区作为起始测试区域，重复步骤（3）和步骤（4）中的测试步骤，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应，则进入步骤（7）；

（7）依次类推，将测试n区作为起始测试区域，重复步骤（3）和步骤（4）中的测试步骤，直到电子设备出现电磁环境效应为止，n为大于3的自然数。

2.根据权利要求1所述的有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法，其特征在于：所述步骤（3）和步骤（4）中辐照次数为3次。

3.根据权利要求1所述的有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法，其特征在于：所述步骤（4）中改变电子设备与地面水平夹角分别为10°、20°、30°、40°、50°、60°、70°、80°、90°。

4.根据权利要求1所述的有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法，其特征在于：测试设备在有界波模拟器外，用于控制电子设备工作，距离有界波模拟器不少于20米。

5.根据权利要求1所述的有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法，其特征在于：所述电子设备置于实验台上，距地面不低于80cm。