[发明专利]一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置

权利要求书

1.一种改善OLED显示面板色偏的方法，其特征在于，包括：

对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理，具体包括：

分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温；

所述预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，具体包括：

依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到所述各单色发光器件的阴极电压相同，加载到所述各单色发光器件的阳极电压相同。

7.如权利要求2-6任一项所述的方法，其特征在于，对OLED显示面板中的各单色发光器件输入预设数据电压进行老化处理时，使各单色发光器件发光工作的预设时长相同。

8.一种改善OLED显示面板色偏的装置，其特征在于，包括：老化处理单元、测试单元、处理单元；

所述老化处理单元，用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

所述测试单元，用于对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

所述处理单元，用于在确定出各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温；所述预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述测试单元，具体用于依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线。

11.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压，大于所述测试单元对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

12.如权利要求11所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差，大于所述测试单元对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差。

13.如权利要求12所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到所述各单色发光器件的阴极电压相同，加载到所述各单色发光器件的阳极电压相同。