[发明专利]一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置有效

专利信息
申请号: 201510020929.5 申请日: 2015-01-15
公开(公告)号: CN104505029B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 韩约白;赖韦霖;金鑫鑫;玄明花 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208;G09G3/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 改善 oled 显示 面板 方法 装置 显示装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展,消费者对于影音产品的要求越来越高,对显示器厂商而言,生产高分辨率、高画质的显示器是发展方向,而有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode,OLED)由于其具有自发光、高亮度、广视角、快速反应以及RGB全彩组件皆可制作等特质,已经被广泛应用于显示器中,目前OLED显示面板的应用已经进入实用化阶段,市场上已有汽车音响和移动电话使用OLED显示面板,今后OLED显示面板将广泛应用于行动产品、笔记本电脑、监视器、壁挂电视等轻薄型显示器中,且全彩化的发展将提高OLED产品的竞争力。

随着OLED全彩化技术发展,目前较常见的全彩化技术有精细金属掩膜板真空蒸镀法(Fine-Metal-MASK,FMM)、彩色滤波片法(也叫“白光+滤色膜”法White+Color filter,W+CF)、以及蓝色转换法(Blue+color conversion method,Blue+CCM)等,其中,FMM是目前中小尺寸OLED显示产品的主流技术,但OLED显示产品存在一个较严重的问题,即由于OLED器件中发光层的有机材料的寿命衰减不一致造成显示器显示的图像发生色偏的问题,尤其以FMM方法制备出的OLED显示产品表现更为明显,其RGB有机材料的寿命衰减不一致,其中,蓝色有机材料的衰减速率最快(LT(R)≥LT(G)>>LT(B)),即如图1所示,蓝色有机材料寿命衰减较快,红色有机材料寿命衰减较慢,OLED显示产品长期使用后显示的图像蓝色亮度偏低,红色亮度偏高,进而易产生色偏的现象,如图2所示,OLED显示产品显示的图像颜色会沿着箭头所指方向偏移,另外,OLED器件在使用初期亮度下降很快,如图1所示,随着使用时间增长,RGB三种颜色的发光器件的发光亮度的衰减会越来越平缓,而在使用初期三种颜色的发光器件的亮度衰减比较快且不均匀,此时OLED显示产品显示的图像易出现影像残像的问题。

因此,如何改善OLED显示产品在使用初期出现的影像残像和长期使用后出现的显示图像发生色偏的问题,是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置,用以改善现有技术中存在的OLED显示产品在使用初期出现的影像残像和长期使用后出现的显示图像发生色偏的问题。

本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的方法,包括:

对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理;

对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试,得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率;

在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时,对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理,直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述方法中,所述对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理,具体包括:

分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压,使各单色发光器件发光工作预设时长,之后冷却至室温;

所述预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定。

在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述方法中,所述对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试,具体包括:

依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压,使各单色发光器件发光工作预设时长,得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线。

在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述方法中,在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述方法中,对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差。

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