[发明专利]一种基于二阶微分的修正L曲线电学层析成像重建方法有效
申请号: | 201510022756.0 | 申请日: | 2015-01-16 |
公开(公告)号: | CN104535294B | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 许燕斌;裴仰;董峰 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01M10/00 | 分类号: | G01M10/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 程毓英 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 微分 修正 曲线 电学 层析 成像 重建 方法 | ||
1.一种基于二阶微分的修正L曲线电学层析成像重建方法,适用于泡状流层析成像,该方法将电学层析成像问题看作一个线性不适定问题Ax=b。其中,A为灵敏度矩阵,b为相对边界测量值向量,x为所求成像灰度值,包含有以下步骤:
(1)根据被测场域,获取重建所需的相对边界测量值向量b和灵敏度矩阵A;
(2)利用Tikhonov正则化,计算并绘制L-曲线;
(3)判断L-曲线是否存在局部拐点;
(4)若不存在局部拐点,则通过L-曲线法确定优化选取的正则化系数;若存在局部拐点,通过修正的L-曲线法确定优化选取的正则化系数,方法为:通过计算L-曲线二阶微分的第二大峰值确定曲线的局部拐点,并将此局部拐点对应的正则化系数作为优化选取的系数;
(5)将正则化系数代入Tikhonov正则化中进行图像重建逆问题求解;
(6)根据求解所得灰度值进行成像。
2.根据权利要求1所述的电学层析成像重建方法,其特征在于:所述步骤(1)边界测量值的获取,是指将被测对象置于电学层析成像测量系统中,被测场域外均匀分布n个电极,采用电流激励电压测量且激励电极不测量的模式,采集循环激励循环测量下各个电极上的边界电压,相对边界测量值向量b为不含内含物的空场边界测量电压向量b1和含有内含物的有物场的边界测量电压向量b2之差。
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