[发明专利]半导体层、半导体器件、阵列基板和显示装置的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510023283.6 申请日: 2015-01-16
公开(公告)号: CN104538396B 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 李延钊;李重君;周莉;王龙 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/77;G02F1/1362
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 彭瑞欣,陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 半导体 半导体器件 阵列 显示装置 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体层、半导体器件、阵列基板和显示装置的制备方法。

背景技术

传统的半导体和液晶显示行业都是以硅材料为基础的,而碳基半导体材料具有更高的迁移率和不同于硅材料的特殊电学性质,因此碳基半导体材料作为新一代的半导体材料开始得到日益广泛的研究和开发利用。

目前,碳纳米管(Carbon nano tube,CNT)的开发方法主要是利用固定催化剂位置的思路来实现碳纳米管的生长,但是利用这种方法制备出的碳纳米管与后续工艺的兼容性较差,例如,刻蚀工艺会部分破坏碳纳米管的完整性。因此,现有的碳纳米管的制备方法难以实现大规模的产业化应用。

发明内容

为解决上述问题,本发明提供一种半导体层、半导体器件、阵列基板和显示装置的制备方法,用于解决现有技术中制备的碳纳米管与后续工艺的兼容性较差,导致难以实现大规模的产业化应用的问题。

为此,本发明提供一种半导体层的制备方法,包括:形成渗碳层,所述渗碳层包括空白区域和溶解区域,所述空白区域对应于形成半导体层的图形区域,所述溶解区域对应于所述图形区域之外的其它区域;在所述渗碳层之上形成半导体层薄膜,所述半导体层薄膜的构成材料包括碳基半导体材料,以使位于所述空白区域之上的半导体层薄膜形成半导体层,位于所述溶解区域之上的半导体层薄膜溶解入所述渗碳层;去除所述渗碳层。

可选的,所述形成渗碳层的步骤包括:形成渗碳层薄膜;在所述渗碳层薄膜上涂敷光刻胶,采用掩模板对所述光刻胶进行曝光显影以形成光刻胶保留区域和光刻胶去除区域,所述光刻胶保留区域对应于形成溶解区域的图形区域,所述光刻胶去除区域对应于形成空白区域的图形区域;对所述渗碳层薄膜进行刻蚀以形成渗碳层;去除剩余的光刻胶。

可选的,所述形成渗碳层的步骤包括:形成渗碳层薄膜;在所述渗碳层薄膜上涂敷光刻胶,采用半色调掩膜板或灰色调掩膜板对所述光刻胶进行曝光显影以形成光刻胶完全保留区域和光刻胶半保留区域,所述光刻胶完全保留区域对应于形成溶解区域的图形区域,所述光刻胶半保留区域对应于形成空白区域的图形区域;对所述渗碳层薄膜进行刻蚀以形成渗碳层;去除剩余的光刻胶。

可选的,所述渗碳层的构成材料包括金属铁、镍、钴和铬中至少一个;所述空白区域留存有厚度为1-100纳米的渗碳层薄膜。

可选的,所述碳基半导体材料包括石墨烯或碳纳米管。

可选的,所述渗碳层的构成材料包括金属铁、镍、钴和铬中至少一个。

可选的,所述渗碳层的构成材料包括对碳元素具有溶解性能的有机物。

可选的,所述去除所述渗碳层的步骤之前包括:将所述渗碳层和所述半导体层薄膜置于高温环境中。

可选的,所述去除所述渗碳层的步骤之后包括:对所述半导体层进行退火处理。

本发明还提供一种半导体器件的制备方法,包括上述任一半导体层的制备方法。

可选的,所述半导体器件包括薄膜晶体管、传感器或太阳能电池。

本发明还提供一种阵列基板的制备方法,包括上述任一半导体层的制备方法。

本发明还提供一种显示装置的制备方法,包括上述任一阵列基 板的制备方法。

本发明具有下述有益效果:

本发明提供的半导体层、半导体器件、阵列基板和显示装置的制备方法中,所述半导体层的制备方法包括:形成渗碳层,所述渗碳层包括空白区域和溶解区域,所述空白区域对应于形成半导体层的图形区域,所述溶解区域对应于所述图形区域之外的其它区域;在所述渗碳层之上形成半导体层薄膜,所述半导体层薄膜的构成材料包括碳基半导体材料,以使位于所述空白区域之上的半导体层薄膜形成半导体层。上述制备方法保证了半导体层的完整性,提高了前后工艺的兼容性,从而实现半导体层的大规模产业化应用。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的一种半导体层的制备方法的流程图;

图2a~图2d为实施例一形成半导体层的示意图;

图3a~图3g为实施例二形成半导体器件的示意图。

具体实施方式

为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图对本发明提供的半导体层、半导体器件、阵列基板和显示装置的制备方法进行详细描述。

实施例一

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510023283.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top