[发明专利]SARADC的采样保持电路有效
| 申请号： | 201510024563.9 | 申请日： | 2015-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN104617955B | 公开（公告）日： | 2018-04-17 |
| 发明（设计）人： | 张斌;唐成伟;张东升 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/38 | 分类号： | H03M1/38 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人： | 郭四华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | sar adc 采样 保持 电路 | ||
1.一种SAR ADC的采样保持电路，其特征在于，采样保持电路的每一通道包括：
采样电容阵列，所述采样电容阵列由多个重复排列的采样电容单元组成，各所述采样电容单元都包括一个采样电容以及和该采样电容的下极板连接的第一开关和第二开关；
所述采样电容的上极板连接到比较器的反相输入端，所述比较器的正相输入端接地；
第三开关连接在所述采样电容的上极板和所述比较器的输出端之间；
第四开关和第一开关依次连接在正参考电压和所述采样电容的下极板之间；
第五开关和第二开关依次连接在负参考电压和所述采样电容的下极板之间；
输入模拟信号通过第六开关连接到所述第四开关和所述第一开关的连接点，所述输入模拟信号通过第七开关连接到所述第五开关和所述第二开关的连接点；
采样期间，所述第六开关、所述第七开关、所述第一开关和所述第二开关闭合使所述输入模拟信号连接到所述采样电容的下极板，所述第三开关闭合使所述采样电容的上极板接虚地，所述第四开关和所述第五开关打开；
量化期间，所述第四开关和所述第五开关闭合，所述第三开关、所述第六开关和所述第七开关打开，所述第一开关和所述第二开关由SAR逻辑控制信号控制闭合或打开。
2.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：所述第四开关为CMOS开关。
3.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：所述第一开关为PMOS开关。
4.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：所述第五开关为NMOS开关。
5.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：所述第二开关为NMOS开关。
6.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：所述第六开关为PMOS开关。
7.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：所述第七开关为NMOS开关。
8.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：所述比较器的输出端连接到逐次逼近寄存器。
9.如权利要求1所述的SAR ADC的采样保持电路，其特征在于：各所述采样电容单元的采样电容的大小不同。
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