[发明专利]一种正常工作模式下芯片调试方法及调试电路有效
申请号: | 201510027607.3 | 申请日: | 2015-01-20 |
公开(公告)号: | CN104535919B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 刘大铕;孙晓宁;张洪柳;赵阳;王运哲;刘奇浩 | 申请(专利权)人: | 山东华芯半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/3183 | 分类号: | G01R31/3183 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司37205 | 代理人: | 赵佳民 |
地址: | 250101 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 正常 工作 模式 芯片 调试 方法 电路 | ||
1.一种正常工作模式下芯片调试方法,其特征在于:在芯片设计时采用引脚复用技术,将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号做复用后输出到芯片引脚上;
在芯片后端设计插入扫描链时,将预定测试的组合逻辑电路正常功能输出信号与需要引出的内部信号引出,并与前一组合逻辑电路寄存器的输出信号分别通过多路选择器输送至下一组合逻辑电路的输入端;将正常工作调测模式使能信号经反相器取反后与普通调测使能信号作与运算,将这一结果作为扫描链的选择信号,控制多路选择器的输出信号。
2.根据权利要求1所述的一种正常工作模式下芯片调试方法,其特征在于:在芯片设计时采用引脚复用技术,将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号通过多路选择器输出到芯片引脚上,并通过多路选择器控制引脚当前的输出信号。
3.一种正常工作模式下芯片调试电路,其特征在于:采用引脚复用技术将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号做复用后连接到芯片引脚上;
在芯片后端设计插入扫描链时,将预定测试的组合逻辑电路正常功能输出信号与需要引出的内部信号引出,并与前一组合逻辑电路寄存器的输出信号分别通过多路选择器输送至下一组合逻辑电路的输入端;
将正常工作调测模式使能信号经反相器取反后与普通调测使能信号作与运算,将这一结果作为扫描链的选择信号,控制多路选择器的输出信号。
4.根据权利要求3所述的一种正常工作模式下芯片调试电路,其特征在于:采用引脚复用技术,将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号通过多路选择器输出到芯片引脚上,并通过多路选择器控制引脚当前的输出信号。
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