[发明专利]一种正常工作模式下芯片调试方法及调试电路

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种正常工作模式下芯片调试方法及调试电路。

背景技术

现有芯片调试时，芯片调试端口的访问需要预先启动调测功能，将芯片置为调测模式，然后进行数据通讯，但此状态下芯片无法实现预期设计功能，因此这种办法仅可以定位器件级问题，对逻辑问题的处理无能为力。

在芯片生产后，需要对芯片电路的功能是否与设计的一致性进行测试，方法就是将电路中的各个寄存器串联起来，形成若干条扫描寄存器链，在每条扫描链的输入端输入测试序列（即“0”“1”序列），然后根据寄存器工作原理，可以在另一端得到这一序列，对这一序列与输入序列进行对比确认寄存器链工作是否正确，具体连接方式如图1所示。将芯片每个组合逻辑电路2与前一组合逻辑电路2寄存器1的输出通过多路选择器3连接至下一组合逻辑电路2的输入端口，其中多路选择器3的切换由普通调测使能信号控制。

更换不同测试序列，将需要测试的组合逻辑输入端置为预定值，将普通调测使能信号关闭，经过一个时钟周期后，经过组合逻辑电路产生的运算值将作为下一级寄存器的输入被存入其中。然后开启普通调测使能信号，将当前的寄存器值在扫描链末端输出。对得到的测试序列进行分析可确定带测试组合逻辑是否功能正确。

上述是对普通扫描电路工作的简单描述，其复杂在于测试序列的生成算法和对输出测试序列的快速分析。

发明内容

为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种正常工作模式下芯片调试方法及调试电路，使芯片在正常工作模式下开启调测功能，在芯片正常工作时能够获得预定测试的组合逻辑电路（端口或内部）的信号状态，定位故障，确认问题。

为实现上述目的，本发明采取如下技术方案：

一种正常工作模式下芯片调试方法，在芯片设计时采用引脚复用技术，将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号做复用后输出到芯片引脚上。

优选的，在芯片设计时采用引脚复用技术，将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号通过多路选择器输出到芯片引脚上，并通过多路选择器控制引脚当前的输出信号。

更进一步的，在芯片后端设计插入扫描链时，将预定测试的组合逻辑电路正常功能输出信号与需要引出的内部信号引出，并与前一组合逻辑电路寄存器的输出信号分别通过多路选择器输送至下一组合逻辑电路的输入端。

更进一步的，将正常工作调测模式使能信号经反相器取反后与普通调测使能信号作与运算，将这一结果作为扫描链的选择信号，控制多路选择器的输出信号。

本发明还提供一种正常工作模式下芯片调试电路，采用引脚复用技术将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号做复用后连接到芯片引脚上，通过这些功能改变的引脚观测到芯片内部的模块的接口信号和其他非输出信号。

优选的，采用引脚复用技术，将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号通过多路选择器输出到芯片引脚上，并通过多路选择器控制引脚当前的输出信号。

更进一步的，在芯片后端设计插入扫描链时，将预定测试的组合逻辑电路正常功能输出信号与需要引出的内部信号引出，并与前一组合逻辑电路寄存器的输出信号分别通过多路选择器输送至下一组合逻辑电路的输入端。

更进一步的，将正常工作调测模式使能信号经反相器取反后与普通调测使能信号作与运算，将这一结果作为扫描链的选择信号，控制多路选择器的输出信号。

有益效果：本发明在未增加电路复杂度的前提下，增加了正常模式下芯片内部信号的引出功能，在芯片调试阶段，我们可以将关键控制信号、时钟、复位、总线状态等重要信号输出到引脚上，当芯片在调试过程中遇到问题时，这些信号的输出将是调试工作事倍功半。特别在芯片不能正常工作时，我们不能通过正常方式访问芯片状态，更无从得知当前芯片是否工作，通过该方法就可以帮助获得更多芯片内部信息，为故障定位和分析提供依据。

将正常模式测试使能信号置于管脚，使该功能的启动最低程度受限与芯片内部结构，这样该功能成功几率将进一步提高，同时简化操作，进一步降低对芯片功能的依赖程度。

附图说明

图1为现有扫描链选择电路。

图2为本发明管脚实现原理图。

图3为本发明提供的扫描链选择电路。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作更进一步的说明。