[发明专利]高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒及校正方法

权利要求书

1.一种高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒，其特征在于，包括半导体纳米材料悬浮液、游离脂肪酸标准溶液和MALDI样品靶清洗液。

2.根据权利要求1所述的质量校正试剂盒，其特征在于，所述半导体纳米材料为ZnO、

(Bi₂O₃)_0.07(CoO)_0.03(ZnO)_0.9、BN、AlN、TiO₂、或Ga₂O₃。

3.根据权利要求1所述的质量校正试剂盒，其特征在于所述半导体纳米材料悬浮液的溶剂为异丙醇。

4.根据权利要求1所述的质量校正试剂盒，其特征在于，所述游离脂肪酸标准溶液中包含有游离脂肪酸C6：0，游离脂肪酸C8：0，游离脂肪酸C10：0，游离脂肪酸C12：0，游离脂肪酸C14：0，游离脂肪酸C16：0，游离脂肪酸C18：0，游离脂肪酸C20：0和游离脂肪酸C22：0共9种游离脂肪酸，所述9种游离脂肪酸具有相同的物质的量。

5.根据权利要求1所述的质量校正试剂盒，其特征在于，所述游离脂肪酸标准溶液的溶剂为正己烷。

6.根据权利要求1所述的质量校正试剂盒，其特征在于，所述MALDI样品靶清洗液的组分为：体积浓度为50％的丙酮和体积浓度为50％的正己烷。

7.根据权利要求1～6任一高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒的校正方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)使用MALDI样品靶清洗液清洗MALDI质谱仪样品靶，调节质谱仪离子源中样品靶电压、六级杆电压、离子提取电压和狭缝电压，使样品靶和狭缝电压差为20伏特；

(2)滴取半导体纳米材料悬浮液于样品靶表面，将样品靶置于室温中，待半导体纳米材料悬浮液中的溶剂完全挥发干燥，得到表面覆盖有半导体纳米材料的样品靶；

(3)取游离脂肪酸标准溶液滴于步骤(2)所述的样品靶上的半导体纳米材料的表面，待游离脂肪酸标准溶液中的溶剂完全挥发干燥后，将样品靶放入质谱仪，在质谱仪的校正模式下进行质量校正，仪器校正后所得校正系数可自动地用于校正样品质谱检测结果；

所述样品质谱检测过程为：取样品溶液滴于上述样品靶上的半导体纳米材料的表面，自然晾干，将样品靶放入质谱仪进行样品的质谱检测。

8.根据权利要求7所述的校正方法，其特征在于，所述质量校正为实时校正或离线校正。