[发明专利]图像捕获装置及其图像缺陷校正方法有效

专利信息
申请号: 201510042311.9 申请日: 2015-01-28
公开(公告)号: CN104811608B 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 周宏隆;廖明俊;蔡庆隆;王煜智;罗梦麟 申请(专利权)人: 聚晶半导体股份有限公司
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232;H04N5/367
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 马雯雯,臧建明
地址: 中国台湾新竹科学*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 图像 捕获 装置 及其 缺陷 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种图像捕获装置的图像缺陷校正方法,其特征在于,适用于具有第一镜头、第二镜头、对焦致动器以及预存第一对焦步数与对焦距离的对应关系的图像捕获装置,该图像缺陷校正方法包括:

利用该第一镜头以及该第二镜头捕获多组图像,其中各所述组图像分别包括对应于该第一镜头的第一图像以及对应于该第二镜头的第二图像,所述组图像包括参考组图像,该参考组图像包括对应于该第一镜头的第一参考图像以及对应于该第二镜头的第二参考图像;

检测该参考组图像是否发生图像缺陷;以及

当检测到该参考组图像发生该图像缺陷时,根据各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数以及对焦距离,校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系,其中各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦步数为该对焦致动器移动该第一镜头与该第二镜头至对焦位置而产生各所述组图像所需的步数。

2.根据权利要求1所述的图像缺陷校正方法,其特征在于,检测该参考组图像是否发生该图像缺陷的步骤包括:

检测该参考组图像中的特征点分别在该第一参考图像以及该第二参考图像的图像坐标;

判断该特征点分别在该第一参考图像与该第二参考图像的图像坐标之间的偏移量是否超过门槛值;以及

若是,则判断该参考组图像发生该图像缺陷。

3.根据权利要求1所述的图像缺陷校正方法,其特征在于,检测该参考组图像是否发生该图像缺陷的步骤包括:

针对该第一参考图像与该第二参考图像进行三维深度估测,以产生该参考组图像中的参考对焦目标物的参考深度信息;

根据该参考深度信息取得该参考对焦目标物所对应的对焦距离;

判断该参考对焦目标物所对应的对焦步数以及对焦距离是否符合该第一对焦步数与对焦距离的对应关系;以及

若否,则判断该参考组图像发生该图像缺陷。

4.根据权利要求1所述的图像缺陷校正方法,其特征在于,检测该参考组图像是否发生该图像缺陷的步骤包括:

检测该第一参考图像以及该第二参考图像是否失焦;

当该第一参考图像以及该第二参考图像当中至少一个失焦时,则判断该参考组图像发生该图像缺陷。

5.根据权利要求1所述的图像缺陷校正方法,其特征在于,当检测到该参考组图像发生该图像缺陷时,根据各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦步数以及对焦距离,校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系的步骤之前,该图像缺陷校正方法还包括:

检测该图像捕获装置的对焦条件,其中该对焦条件包括远景对焦条件以及近景对焦条件。

6.根据权利要求5所述的图像缺陷校正方法,其特征在于,该对焦条件为该远景对焦条件,当检测到该参考组图像发生该图像缺陷时,根据各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦步数以及对焦距离,校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系的步骤包括:

记录各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦步数;以及

当各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦步数达到收敛值时,取得该第一对焦步数与对焦距离的对应关系中的最小对焦步数,并且计算该最小对焦步数与该收敛值的差值,据以校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系。

7.根据权利要求5所述的图像缺陷校正方法,其特征在于,该对焦条件为该近景对焦条件,当检测到该参考组图像发生该图像缺陷时,根据各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦步数以及对焦距离,校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系的步骤包括:

针对各所述组图像进行三维深度估测,以产生各所述组图像中的该对焦目标物的深度信息;

根据各所述深度信息,取得各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦距离;以及

根据各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦距离以及对焦步数,进行回归运算,并且根据该回归运算的结果,校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系。

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