[发明专利]一种射频系统芯片性能测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201510051841.X 申请日: 2015-01-30
公开(公告)号: CN104618037A 公开(公告)日: 2015-05-13
发明(设计)人: 邓任钦;梁晨;胡汝佳 申请(专利权)人: 深圳市大疆创新科技有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 王仲凯
地址: 518055 广东省深圳市南山区高新技术产业*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 系统 芯片 性能 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种射频系统芯片性能测试方法,其特征在于,包括:

从所述射频系统芯片的通信端的第一信号接口输入预设信号到所述射频系统芯片的通信端,所述预设信号包括单音信号及多音信号中的至少一种;

从所述射频系统芯片的通信端的第二信号接口采集信号,对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通信端为接收链路,所述第一信号接口为接收链路的射频端口,所述第二信号接口为接收链路的数字端口。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述性能参数包括如下至少一种:数字增益,噪声系数,非线性性能,同相正交相不平衡及群时延特性。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设信号为单音信号,所述性能参数包括所述接收链路的数字增益,所述对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数的步骤包括:

以所述接收链路的模数转换满幅值时,采样n_fft点单音信号进行快速傅里叶变换后的频域能量值为归一化参考值;

从所述第二信号接口采集信号,对采集到的信号进行快速傅里叶变换后作频域分析,加窗处理以减少频谱泄露,搜索所述单音信号并参考所述归一化参考值归一化后得到信号数字功率;

根据所述信号数字功率及所述单音信号的功率计算所述接收链路的数字增益。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述性能参数包括所述接收链路的噪声系数,所述对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数的步骤还包括:

在所述接收链路中接入匹配负载,从所述第二信号接口采集噪声信号,对所述噪声信号进行傅里叶变换并归一化,并在测量带宽内积分得到噪声功率;

根据所述噪声功率及所述接收链路的数字增益计算所述接收链路的噪声系数。

6.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述单音信号为两个,所述性能参数包括所述接收链路的非线性性能,所述对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数的步骤包括:

从所述第二信号接口采集信号并分析得到所述两个单音信号的数字功率及数字增益,根据所述两个单音信号的数字功率及数字增益分别计算三阶互调以及二阶互调。

7.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述性能参数包括所述接收链路的同相正交相不平衡,所述对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数的步骤包括:

从所述第二信号接口采集信号,对采集到的信号进行时域处理;

根据时域处理后的信号,计算所述接收链路的同相正交相幅度不平衡以及同相正交相相位不平衡。

8.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设信号为多音信号,所述性能参数包括所述接收链路的群时延特性,所述对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数的步骤包括:

从所述第二信号接口采集信号,对采集到的信号进行快速傅里叶变换后获取每个信号的相位;

根据每个信号的相位对频率做线性回归分析得到群时延指标,对残差分析得到所述接收链路的群时延特性。

9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通信端为发射链路,所述第一信号接口为发射链路的数字端口,所述第二信号接口为发射链路的射频端口。

10.一种射频系统芯片性能测试装置,其特征在于,包括:

输入控制单元,用于从所述射频系统芯片的通信端的第一信号接口输入预设信号到所述射频系统芯片的通信端,所述预设信号包括单音信号及多音信号中的至少一种;

信号处理单元,用于从所述射频系统芯片的通信端的第二信号接口采集信号,对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数。

11.如权利要求10所述的装置,其特征在于,所述通信端为接收链路,所述第一信号接口为接收链路的射频端口,所述第二信号接口为接收链路的数字端口。

12.如权利要求11所述的装置,其特征在于,所述性能参数包括如下至少一种:数字增益,噪声系数,非线性性能,同相正交相不平衡及群时延特性。

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