[发明专利]塞曼背景校正光路及其系统有效
| 申请号： | 201510067759.6 | 申请日： | 2015-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN104655272B | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | 杜江;张舜生;甄长伟 | 申请（专利权）人： | 北京海光仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G02B27/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100015 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 全反射镜 棱镜 切光器 半透半反镜 背景校正 光路 光源 遮挡 检测器 恒定磁场 原子化器 单色器 接收光 切光片 反射 | ||
1.一种塞曼背景校正光路，其特征在于，包括：光源，恒定磁场和原子化器，第一半透半反镜，第一洛匈棱镜，第一全反射镜，第二洛匈棱镜，第二全反射镜，切光器以及单色器和检测器，其中，所述光源发出光，所述恒定磁场和原子化器接收所述光源发出的光和将所述光发送到所述第一半透半反镜，所述第一半透半反镜接收所述光、将所述光分成第一光束和第二光束，并将所述第一光束沿直线发送到所述第一洛匈棱镜以及将所述第二光束沿垂直方向反射到所述第一全反射镜，所述第一洛匈棱镜将第一光束发送到所述切光器，所述第一全反射镜接收所述第二光束和将所述第二光束发送到所述第二洛匈棱镜，所述第二洛匈棱镜接收所述第二光束和将所述第二光束发送到所述第二全反射镜，所述第二全反射镜将第二光束发送到所述切光器，所述切光器机通过旋转切光片遮挡所述第一光束和所述第二光束两者之一的光束，并将未被遮挡的光束发送到所述单色器和检测器。
2.根据权利要求1的塞曼背景校正光路，其特征在于，所述塞曼背景校正光路还包括第二半透半反镜，从所述第一全反射镜接收所述第二光束，并将所述第一光束发送到所述单色器和检测器。
3.根据权利要求1的塞曼背景校正光路，其特征在于，所述切光器的切光片为透光和全反射两种状态，当所述切光器为透光状态时，接收所述第一洛匈棱镜发送的第一光束，并将所述第一光束透传到所述单色器和检测器；当所述切光器为全反射状态时，接收所述第二全反射镜发送的第二光束，并将所述第二光束反射到所述单色器和检测器。
4.一种塞曼背景校正光路系统，其特征在于，包括如权利要求1至3项中任意一项所述的塞曼背景校正光路。
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