[发明专利]塞曼背景校正光路及其系统

说明书

本发明涉及一种塞曼背景校正光路及其系统。包括：光源发出光，恒定磁场和原子化器接收光源发出的光和将光发送到第一半透半反镜，第一半透半反镜接收光、将光分成第一光束和第二光束，并将第一光束沿直线发送到第一洛匈棱镜以及将第二光束沿垂直方向反射到第一全反射镜，第一洛匈棱镜将第一光束发送到切光器，第一全反射镜接收第二光束和将第二光束发送到第二洛匈棱镜，第二洛匈棱镜接收第二光束和将第二光束发送到第二全反射镜，第二全反射镜将第二光束发送到切光器，切光器机通过旋转切光片遮挡第一光束和第二光束两者之一的光束，并将未被遮挡的光束发送到单色器和检测器。增强了仪器的稳定性和可靠性。

技术领域

本发明涉及光学领域，尤其涉及一种塞曼背景校正光路及其系统。

背景技术

目前，横向塞曼背景校正的光路包括：洛匈棱镜方式和沃拉斯顿棱镜方式。其中，洛匈棱镜方式的优点是：两道的信号比较一致，两束光重合比较好，洛匈棱镜方式的缺点是：需要电机带动棱镜旋转才能将两束光分开，电机的性能很大程度影响了背景校正和仪器的稳定性。而沃拉斯顿棱镜方式的优点是：棱镜静止不动，不需要运动部件，可靠性高，缺点是：两道信号一致性差，光学镜片较多。因此，洛匈棱镜方式和沃拉斯顿棱镜方式都存在缺陷。

如图1所示，现有技术的塞曼背景校正光路原理图，包括：光源1，恒定磁场和原子化器2，洛匈棱镜和旋转电机3以及单色器和检测器4，其中，光源1发出的光经过原子化器2后，包含平行振动方向的光和垂直振动方向的光，要实现背景校正需要将这两种光分离出来进行测量。当前现有技术是光通过一个旋转的洛匈棱镜3，洛匈棱镜3在某一角度时平行振动方向的光通过洛匈棱镜沿直线传播，被检测器4接收，垂直振动方向的光偏离原传播方向不能被检测器4接收；洛匈棱镜3旋转90度后垂直振动方向的光通过洛匈棱镜3沿直线传播，被检测器4接收，而平行振动方向的光偏离原传播方向不能被检测器接收。由此实现两种光被分离，并分时进行测量。该方案的缺点是：电机转动速度、噪音、温升等因素都会影响测量稳定性和可靠性。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型方法的塞曼背景校正光路，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种采用两块洛匈棱镜固定安装实现光束分开从而增强了仪器的稳定性和可靠性的塞曼背景校正光路以及系统。

本发明提供一种塞曼背景校正光路，包括：光源，恒定磁场和原子化器，第一半透半反镜，第一洛匈棱镜，第一全反射镜，第二洛匈棱镜，第二全反射镜，切光器以及单色器和检测器，其中，所述光源发出光，所述恒定磁场和原子化器接收所述光源发出的光和将所述光发送到所述第一半透半反镜，所述第一半透半反镜接收所述光、将所述光分成第一光束和第二光束，并将所述第一光束沿直线发送到所述第一洛匈棱镜以及将所述第二光束沿垂直方向反射到所述第一全反射镜，所述第一洛匈棱镜将第一光束发送到所述切光器，所述第一全反射镜接收所述第二光束和将所述第二光束发送到所述第二洛匈棱镜，所述第二洛匈棱镜接收所述第二光束和将所述第二光束发送到所述第二全反射镜，所述第二全反射镜将第二光束发送到所述切光器，所述切光器机通过旋转切光片遮挡所述第一光束和所述第二光束两者之一的光束，并将未被遮挡的光束发送到所述单色器和检测器。

进一步的，上述塞曼背景校正光路，还包括第二半透半反镜，从所述第一全反射镜接收所述第二光束，并将所述第一光束发送到所述单色器和检测器。

进一步的，上述切光器的切光片为透光和全反射两种状态，当所述切光器为透光状态时，接收所述第一洛匈棱镜发送的第一光束，并将所述第一光束透传到所述单色器和检测器；当所述切光器为全反射状态时，接收所述第二全反射镜发送的第二光束，并将所述第二光束反射到所述单色器和检测器。

本发明提供一种塞曼背景校正光路系统，包括上述任意的塞曼背景校正光路。

借由上述方案，本发明至少具有以下优点：