[发明专利]位置检测装置以及位置检测方法有效

专利信息
申请号: 201510088665.7 申请日: 2015-02-26
公开(公告)号: CN104898894B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 阿野尊洋 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042;G03B21/14
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 位置 检测 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种位置检测装置,其特征在于,该位置检测装置具有:

判定部,其判定指示体的种类;

光出射部,其向检测所述指示体的指示位置的检测区域射出检测光;

摄影部,其拍摄所述检测区域;

检测部,其根据所述摄影部拍摄的摄影图像检测所述指示体的指示位置;

存储部,其按每种所述指示体存储与所述检测部检测出的指示位置的变动相关的基准变动量;以及

校正部,其从所述存储部取得与由所述判定部判定出的所述指示体的种类对应的基准变动量,根据取得的所述基准变动量,对所述检测部检测出的指示位置进行校正,

所述基准变动量是基于根据所述摄影部多次拍摄到的各个摄影图像检测出指示位置时的指示位置的最大值与最小值之差而计算的,

所述校正部在对所述指示位置进行校正时,使用根据所述指示位置而不同的基准变动量,

所述位置检测装置还具有计算部,该计算部将检测所述指示体的指示位置的检测区域分割为多个区域,按分割后的每个所述区域,根据所述检测部检测出的指示位置的变动,计算所述基准变动量,

所述存储部存储所述计算部计算出的所述基准变动量,

所述校正部根据所述多个区域中的包含所述检测部检测出的指示位置的区域的基准变动量,对所述指示位置进行校正。

2.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,

在所述指示位置的变动处于所述基准变动量的范围内的情况下,所述校正部进行补偿所述变动的校正。

3.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,

所述检测部根据所述摄影部的摄影图像数据,检测作为所述指示体的第1指示体发出的光的像和由作为所述指示体的第2指示体反射的所述检测光的像中的至少一方,根据所述第1指示体和所述光出射部的发光定时,区分地检测所述第1指示体和所述第2指示体的指示位置。

4.根据权利要求3所述的位置检测装置,其特征在于,

所述检测部检测所述光出射部熄灭时的摄影图像数据中显现的亮点的位置作为所述第1指示体的指示位置。

5.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,

所述存储部存储与指示位置对应的多个基准变动量,

所述校正部从所述存储部取得与所述检测部检测出的指示位置对应的基准变动量,根据取得的所述基准变动量,对所述检测部检测出的指示位置进行校正。

6.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,

所述校正部根据指示位置对所述存储部存储的所述基准变动量进行调整,根据调整后的基准变动量,对所述检测部检测出的指示位置进行校正。

7.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,

所述计算部针对分割后的所述区域中的一部分区域,根据所述检测部检测出的指示位置的变动,计算所述基准变动量,针对其它区域,通过使用所述一部分区域的基准变动量的运算处理来计算所述基准变动量。

8.一种位置检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

判定步骤,判定指示体的种类;

射出步骤,向检测所述指示体的指示位置的检测区域射出检测光;

拍摄步骤,拍摄所述检测区域;

检测步骤,根据所拍摄的摄影图像检测所述指示体的指示位置;

校正步骤,从存储部中取得与判定出的所述指示体的种类对应的基准变动量,根据取得的所述基准变动量,对检测出的指示位置进行校正,其中,所述存储部按每种所述指示体存储与检测出的指示位置的变动相关的基准变动量;以及

计算步骤,

所述基准变动量是基于根据多次拍摄到的各个摄影图像检测出指示位置时的指示位置的最大值与最小值之差而计算的,

在所述校正步骤中,在对所述指示位置进行校正时,使用根据所述指示位置而不同的基准变动量,

在所述计算步骤中,将检测所述指示体的指示位置的检测区域分割为多个区域,按分割后的每个所述区域,根据所检测出的指示位置的变动,计算所述基准变动量,

所述存储部存储所述计算步骤中计算出的所述基准变动量,

在所述校正步骤中,根据所述多个区域中的包含检测出的指示位置的区域的基准变动量,对所述指示位置进行校正。

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