[发明专利]位置检测装置以及位置检测方法有效

专利信息
申请号: 201510088665.7 申请日: 2015-02-26
公开(公告)号: CN104898894B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 阿野尊洋 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042;G03B21/14
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 位置 检测 装置 以及 方法
【说明书】:

位置检测装置以及位置检测方法,能够与所使用的指示体无关地适当地进行指示位置的校正。投影仪(10)具有:指示体检测部(54),其判定指示体(70、80)的种类;坐标计算部(55),其检测指示体(70、80)的指示位置;存储部(110),其按每种指示体(70、80)存储指示体(70、80)的指示位置的基准变动量;以及投射控制部(31),其从存储部(110)取得与由指示体检测部(54)判定出的指示体的种类对应的基准变动量,根据取得的基准变动量,对坐标计算部(55)检测出的指示位置进行校正。

技术领域

本发明涉及位置检测装置以及位置检测方法。

背景技术

如下这样的系统已被提出:利用投影仪将从计算机等影像输出装置输出的图像投射到投射面,并且,利用照相机拍摄所投射的图像,在投影仪中识别对投射的图像进行的操作指示。例如,在专利文献1中公开了如下技术:利用摄影装置拍摄作为指示体的发光笔的发光,确定发光笔的指示位置。

专利文献1:日本特开2011-227600号公报

在根据由摄影装置拍摄的摄影图像来确定指示体的指示位置的情况下,确定的指示位置有时会发生变动(抖动),因此,需要进行校正指示位置变动的校正处理。尤其是,在组合使用指示位置检测方式不同的多个指示体的情况下,有时由于检测方式的不同而影响位置检测的精度。此外,变动量有时根据投射面上的被指示的指示位置而不同,从而影响位置检测的精度。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而完成的,目的在于提供能够与所使用的指示体、指示位置无关地适当地进行指示位置校正的位置检测装置以及位置检测方法。

为了达成上述目的,本发明的位置检测装置的特征在于具有:判定部,其判定指示体的种类;检测部,其检测所述指示体的指示位置;存储部,其按每种所述指示体存储与所述检测部检测出的指示位置的变动相关的基准变动量;以及校正部,其从所述存储部取得与由所述判定部判定出的所述指示体的种类对应的基准变动量,根据取得的所述基准变动量,对所述检测部检测出的指示位置进行校正。

根据本结构,能够与所使用的指示体无关地适当进行指示位置的校正。

此外,本发明的特征在于,在上述位置检测装置中,在所述指示位置的变动处于所述基准变动量的范围内的情况下,所述校正部进行补偿所述变动的校正。

根据本结构,能够补偿指示位置的变动。

此外,本发明的特征在于,所述位置检测装置还具有计算部,该计算部根据所述检测部检测出的指示位置的变动,计算所述基准变动量,所述存储部存储由所述计算部计算出的所述基准变动量。

根据本结构,能够根据检测部检测出的指示位置的变动来计算基准变动量,存储在存储部中。

此外,本发明的特征在于,所述位置检测装置具有:光出射部,其向检测所述指示体的指示位置的检测区域射出检测光;以及摄影部,其拍摄所述检测区域;所述检测部根据所述摄影部的摄影图像数据,检测作为所述指示体的第1指示体发出的光的像和由作为所述指示体的第2指示体反射的所述检测光的像中的至少一方,根据所述第1指示体和所述光出射部的发光定时,区分地检测所述第1指示体和所述第2指示体的指示位置。

根据本结构,能够提高第1指示体与第2指示体的识别精度,能够与所使用的指示体无关地适当进行各指示体的指示位置的校正。

此外,本发明的特征在于,在上述位置检测装置中,所述检测部检测所述光出射部熄灭时的摄影图像数据中显现的亮点的位置作为所述第1指示体的指示位置。

根据本结构,能够提高区分第1指示体与第2指示体的精度,能够与所使用的指示体无关地适当进行各指示体的指示位置的校正。

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