[发明专利]半导体设备

权利要求书

1.一种半导体设备，包括：

中央处理单元(CPU)；

FLASH存储器；

随机存取存储器(RAM)；

测试序列发生器；

存储器控制器，其控制对所述FLASH存储器的写入和擦除操作；

第一多路复用器，其将第一总线与所述CPU和所述测试序列发生器中任一个耦合；以及

第二多路复用器，其将所述RAM与所述第一总线和所述存储器控制器中任一个耦合；

其中，在正常操作模式中，所述RAM经由所述第一多路复用器和所述第二多路复用器被耦合至所述CPU，以及所述CPU通过经由所述第一总线向所述存储器控制器发送命令来控制所述FLASH存储器；以及

其中，在测试模式中，所述RAM经由所述第二多路复用器被耦合至所述存储器控制器，并且所述测试序列发生器通过经由所述第一总线向所述存储器控制器发送命令来控制所述FLASH存储器。

2.根据权利要求1所述的半导体设备，

其中用户程序和测试固件被存储在所述RAM中；

其中所述CPU在所述正常操作模式中基于所述用户程序发送命令；以及

其中所述测试序列发生器在所述测试模式中基于所述固件发送命令。

3.根据权利要求1所述的半导体设备，还包括程序定制控制器，其控制所述FLASH存储器，其中所述程序定制控制器通过读出测试固件并且按序执行所述测试固件中的指令来测试所述FLASH存储器。

4.根据权利要求3所述的半导体设备，还包括在所述存储器控制器中的第二总线，其中所述程序定制控制器经由所述第二总线读出所述测试固件。

5.根据权利要求1所述的半导体设备，还包括存储标记的存储设备，所述标记指示所述半导体设备是在所述正常操作模式中操作还是在所述测试模式中操作，其中所述第一多路复用器和所述第二多路复用器基于所述标记确定连接。