[发明专利]一种三维电磁场平移扫描光学测量系统及电磁场测定方法有效

专利信息
申请号: 201510102573.X 申请日: 2015-03-09
公开(公告)号: CN104635063B 公开(公告)日: 2017-10-10
发明(设计)人: 李岩松;刘君 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R33/032;G01R29/12
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 黄家俊
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 三维 电磁场 平移 扫描 光学 测量 系统 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种三维电磁场平移扫描光学测量系统,包括:三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统、三维光学单通道磁场移动扫描测量系统、三维光学矩阵通道电场移动扫描测量系统,其特征在于,三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统为三维磁场矩阵通道光学传感单元(23)安置于三维移动和位置数据输出平台(25)的光学传感支撑杆(26)上,三维磁场矩阵通道光学传感单元(23)在零磁场屏蔽空腔(24)内进行磁场测量的零位整定,工业控制机计算机(35)通过控制三维移动和位置数据输出平台(25)进行三维空间位置的精确平移和定位,并记录空间位置数据,三维磁场矩阵通道光学传感单元(23)通过X轴、Y轴和Z轴的光学传感矩阵通道测量磁场,通过三维电磁场光学信息处理单元(15)进行信息处理后传输到工业控制机计算机(35),工业控制机计算机(35)根据三维磁场矩阵通道光学传感单元(23)所测量的磁场数据和三维移动和位置数据输出平台(25)输出的三维空间位置数据进行磁场反演计算,得到三维坐标下的磁场信息。

2.根据权利要求1所述一种三维电磁场平移扫描光学测量系统,其特征在于,所述三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统中,智能调制功率光源(14)通过一束光纤束将光强基本相同的光发送到X轴向矩阵通道输入准直器(17)、Y轴向矩阵通道输入准直器(19)和Z轴向矩阵通道输入准直器(21),光束分别在X轴、Y轴和Z轴方向依次通过X轴向起偏器(1)、Y轴向起偏器(3)和Z轴向起偏器(5)后分别在在X轴、Y轴和Z轴方向通过磁光传感立方体(7),再经过X轴向检偏器(2)、Y轴向检偏器(4)和Z轴向检偏器(6)通过X轴向矩阵通道输出准直器(18)、Y轴向矩阵通道输出准直器(20)和Z轴向矩阵通道输出准直器(22),经由光纤束将在三维磁场中感应后的光信号输出到三维电磁场光学信息处理单元(15);

X轴向矩阵通道输入准直器(17)、Y轴向矩阵通道输入准直器(19)和Z轴向矩阵通道输入准直器(21)以及X轴向矩阵通道输出准直器(18)、Y轴向矩阵通道输出准直器(20)和Z轴向矩阵通道输出准直器(22)都是由N×N或者N×M个准直器以矩阵方式排列组成的准直器组,N×N或者N×M个准直器之间的相对位置固定,各个准直器的出光端面处于同一个平面内,各个准直器的轴线相互平行;N×N或者N×M个准直器中任意两个相邻准直器轴线的距离相等;X轴向矩阵通道输入准直器(17)中的各个准直器与X轴向矩阵通道输出准直器(18)中对应的各个准直器的中心轴线处于同一条直线上,Y轴向矩阵通道输入准直器(19)中的各个准直器与Y轴向矩阵通道输出准直器(20)中对应的各个准直器的中心轴线处于同一条直线上,Z轴向矩阵通道输入准直器(21)中的各个准直器与Z轴向矩阵通道输出准直器(22)中对应的各个准直器的中心轴线处于同一条直线上。

3.一种三维电磁场平移扫描光学测量系统,包括:三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统、三维光学单通道磁场移动扫描测量系统、三维光学矩阵通道电场移动扫描测量系统,其特征在于,三维光学单通道磁场移动扫描测量系统为三维磁场单通道光学传感单元(16)安置于三维移动和位置数据输出平台(25)的光学传感支撑杆(26)上,三维磁场单通道光学传感单元(16)在零磁场屏蔽空腔(24)内进行磁场测量的零位整定,工业控制机计算机(35)通过控制三维移动和位置数据输出平台(25)进行三维空间位置的精确平移和定位,并记录空间位置数据,三维磁场单通道光学传感单元(16)通过X轴、Y轴和Z轴的光学传感矩阵通道测量磁场,通过三维电磁场光学信息处理单元(15)进行信息处理后传输到工业控制机计算机(35),工业控制机计算机(35)根据三维磁场单通道光学传感单元(16)所测量的磁场数据和三维移动和位置数据输出平台(25)输出的三维空间位置数据进行磁场反演计算,得到三维坐标下的磁场信息。

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