[发明专利]一种三维电磁场平移扫描光学测量系统及电磁场测定方法有效
申请号: | 201510102573.X | 申请日: | 2015-03-09 |
公开(公告)号: | CN104635063B | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 李岩松;刘君 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R33/032;G01R29/12 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 | 代理人: | 黄家俊 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三维 电磁场 平移 扫描 光学 测量 系统 测定 方法 | ||
技术领域
本发明属于空间电磁场检测技术领域,尤其是涉及一种三维电磁场平移扫描光学测量系统及电磁场测定方法。
背景技术
电力系统的安全生产关乎到国家的经济建设和国家安全,而电力系统的生产安全决定于电气设备的运行状况。通过电磁场三维移动扫描可以对电气设备故障电流和电压所形成的空间电磁场进行检测,获得电气设备的故障特征信息,从而判断出电气设备的故障位置和故障类型。在电气设备故障检测技术中,准确获得电流和电压所形成的空间电磁场信息,是故障定位的核心技术之一。现有的空间电磁场检测技术是,通过空心线圈感应出空间磁场信号,将信号输入到一个滤波器中,通过模拟电路进行信号幅度的检测,然后显示到数码管或者液晶显示器上,该现有技术存在仅能测量一维磁场;磁场测量值是对于穿过空心线圈空间磁场的面积分,无法实现对微小点的磁场和电场测量;无法实现三维电磁场的重现的技术不足。本发明提出了一种三维电磁场平移扫描光学测量系统及方法,提供了一种三维磁光效应和电光效应为特征的空间电磁场检测系统,采用磁光效应和电光效应的三维矩阵通道光学测量,通过与位置数据实时结合实现对空间电磁场信息的三维重现。
发明内容
本发明的目的在于,针对目前空间电磁场检测技术只能测量一维磁场,无法实现对微小点的磁场和电场测量以及无法实现三维电磁场重现的问题,提出一种三维电磁场平移扫描光学测量系统及电磁场测定方法。
本发明提出一种三维电磁场平移扫描光学测量系统,包括:三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统、三维光学单通道磁场移动扫描测量系统、三维光学矩阵通道电场移动扫描测量系统,其特征在于,三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统为三维磁场矩阵通道光学传感单元23安置于三维移动和位置数据输出平台25的光学传感支撑杆26上,三维磁场矩阵通道光学传感单元23在零磁场屏蔽空腔24内进行磁场测量的零位整定,工业控制机计算机35通过控制三维移动和位置数据输出平台25进行三维空间位置的精确平移和定位,并记录空间位置数据,三维磁场矩阵通道光学传感单元23通过X轴、Y轴和Z轴的光学传感矩阵通道测量磁场,通过三维电磁场光学信息处理单元15进行信息处理后传输到工业控制机计算机35,工业控制机计算机35根据三维磁场矩阵通道光学传感单元23所测量的磁场数据和三维移动和位置数据输出平台25输出的三维空间位置数据进行磁场反演计算,得到三维坐标下的磁场信息。
所述三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统中,智能调制功率光源14通过一束光纤束将光强基本相同的光发送到X轴向矩阵通道输入准直器17、Y轴向矩阵通道输入准直器19和Z轴向矩阵通道输入准直器21,光束分别在X轴、Y轴和Z轴方向依次通过X轴向起偏器1、Y轴向起偏器3和Z轴向起偏器5后分别在在X轴、Y轴和Z轴方向通过磁光传感立方体7,再经过X轴向检偏器2、Y轴向检偏器4和Z轴向检偏器6通过X轴向矩阵通道输出准直器18、Y轴向矩阵通道输出准直器20和Z轴向矩阵通道输出准直器22,经由光纤束将在三维磁场中感应后的光信号输出到三维电磁场光学信息处理单元15;
X轴向矩阵通道输入准直器17、Y轴向矩阵通道输入准直器19和Z轴向矩阵通道输入准直器21以及X轴向矩阵通道输出准直器18、Y轴向矩阵通道输出准直器20和Z轴向矩阵通道输出准直器22都是由N×N或者N×M个准直 器以矩阵方式排列组成的准直器组,N×N或者N×M个准直器之间的相对位置固定,各个准直器的出光端面处于同一个平面内,各个准直器的轴线相互平行;N×N或者N×M个准直器中任意两个相邻准直器轴线的距离相等;X轴向矩阵通道输入准直器17中的各个准直器与X轴向矩阵通道输出准直器18中对应的各个准直器的中心轴线处于同一条直线上,Y轴向矩阵通道输入准直器19中的各个准直器与Y轴向矩阵通道输出准直器20中对应的各个准直器的中心轴线处于同一条直线上,Z轴向矩阵通道输入准直器21中的各个准直器与Z轴向矩阵通道输出准直器22中对应的各个准直器的中心轴线处于同一条直线上。
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