[发明专利]OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法

权利要求书

1.一种OLED显示装置，所述OLED显示装置包括OLED像素阵列；其特征在于，所述OLED显示装置还包括：

像素检测电路，用于检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度；

其中，通过将每个像素的亮度与该像素的老化程度成反比的老化图像显示在所述OLED像素阵列上来对所述各个OLED像素分别地进行老化，使得所述各个OLED像素的老化程度相同。

2.如权利要求1所述的OLED显示装置，其特征在于，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压来指示，所述像素检测电路适于获取各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压。

3.如权利要求2所述的OLED显示装置，其特征在于，所述像素检测电路通过检测流经驱动薄膜晶体管的电流来获得各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压。

4.如权利要求1所述的OLED显示装置，其特征在于，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中跨越OLED的电压来指示，所述像素检测电路适于检测各个OLED像素中跨越OLED的电压。

5.如权利要求1所述的OLED显示装置，其特征在于，所述OLED显示装置还包括：

计时电路，用于以预定的时间间隔启动所述像素检测电路。

6.一种用于矫正OLED显示装置的残像的方法，所述OLED显示装置包括OLED像素阵列；其特征在于，所述方法包括：

检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度；以及

通过将每个像素的亮度与该像素的老化程度成反比的老化图像显示在所述OLED像素阵列上来对所述各个OLED像素分别地进行老化，使得所述各个OLED像素的老化程度相同。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度包括：

利用像素检测电路检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压来指示。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，通过检测流经驱动薄膜晶体管的电流来获得各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压。

10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中跨越OLED的电压来指示。

11.如权利要求6所述的方法，其特征在于，检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度包括：

利用对所述OLED像素阵列的光学成像来检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素的亮度来指示。

13.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述老化步骤之后，增加各个OLED像素对应于非零灰阶的数据线电压和/或驱动电压。

14.如权利要求6-13之一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

以预定的时间间隔执行所述检测步骤和老化步骤。