[发明专利]OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法

说明书

根据本发明实施例提供的OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法，可以使用多种方式来检测OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度，从而能够通过调整各个OLED像素的老化程度来矫正OLED显示装置的残像。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode)显示器是一种全固态、主动发光型显示器。OLED显示器具有高亮度、高对比度、超薄超轻、低功耗、无视角限制、工作温度范围广等特性，因此被认为是新兴的下一代显示器。

有源矩阵OLED（AMOLED）显示面板与薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）产品特性具有很大的差异。AMOLED显示技术发展到现在，尤为突出的问题就是显示残像。残像与显示图像的轮廓有关。不同的显示灰阶会造成驱动薄膜晶体管漏极电流的巨大差异；同时，各个薄膜晶体管（TFT）的栅源极电压（Vgs）之间的的不同对各个薄膜晶体管也产生了不同的电压耐受性（stress）影响；因此，在屏幕上，有可能以显示图像为轮廓，对显示器上的OLED像素产生不同的TFT阈值电压（Vth）漂移。

另外，长期使用之后，OLED显示屏的电致发光材料会有老化，发光效率就会降低。这也会造成OLED显示屏的残像。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种能够矫正残像的OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法。

因此，本发明实施例提供了一种OLED显示装置，所述OLED显示装置包括OLED像素阵列；所述OLED显示装置还包括：像素检测电路，用于检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度；其中，通过将老化图像显示在所述OLED像素阵列上来对所述各个OLED像素分别地进行老化，使得所述各个OLED像素的老化程度相同；所述老化图像中每个像素的亮度与该像素的老化程度成反比。

本发明实施例提供的上述OLED显示装置利用像素检测电路检测OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度，从而能够通过调整各个OLED像素的老化程度来矫正OLED显示装置的残像。

较佳地，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压来指示，所述像素检测电路适于获取各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压。

具体地，所述像素检测电路通过检测流经驱动薄膜晶体管的电流来获得各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压。

较佳地，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中跨越OLED的电压来指示，所述像素检测电路适于检测各个OLED像素中跨越OLED的电压。

较佳地，所述OLED显示装置还包括：计时电路，用于以预定的时间间隔启动所述像素检测电路。

本发明实施例还提供了一种用于矫正OLED显示装置的残像的方法，所述OLED显示装置包括OLED像素阵列；所述方法包括：检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度；以及对OLED像素阵列中的各个OLED像素分别地进行老化，使得所述各个OLED像素的老化程度相同。

较佳地，对OLED像素阵列中的各个OLED像素分别地进行老化包括：通过将老化图像显示在所述OLED像素阵列上来对所述各个OLED像素分别地进行老化；所述老化图像中每个像素的亮度与该像素的老化程度成反比。

较佳地，检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度包括：利用像素检测电路检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度。

较佳地，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压来指示。