[发明专利]通过消除周期性出现的测量伪像来校正测量值曲线的方法

权利要求书

1.一种用于通过消除周期性出现的测量伪像来校正测量值曲线的方法，所述方法包括下列措施：

a)提供表示周期性重复事件的测量值曲线(M)；

b)将所述测量值曲线(M)划分成与周期性重复事件的依次接连的多个周期(P)相对应的周期测量值曲线(M_P)，措施b)包括措施b2)，该措施用于从所对应的周期测量值曲线(M_P)中减去为每个周期测量值曲线(M_P)求出的周期测量值曲线平均值(M_PM)，以提供经移动的周期测量值曲线(M_PLV)；

c)根据与多个周期(P)对应的周期测量值曲线(M_P)求出平均的周期测量值曲线(M_mP)；

d)形成在与多个周期(P)对应的周期测量值曲线(M_P)和平均的周期测量值曲线(M_mP)之间的差，以提供与所述周期(P)分别对应的差异周期测量值曲线(M_PD)；

e)根据所述差异周期测量值曲线(M_PD)，对周期性重复事件的多个依次接连的周期(P)确定经校正的测量值曲线(M_K)，措施e)包括措施e1)，该措施用于通过使差异周期测量值曲线(M_PD)分别与针对对应的周期(P)在措施b2)中所求出的周期测量值曲线平均值(M_PM)相加而求出回移的差异周期测量值曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，多个周期(P)包括不同周期长度的周期(P)，并且所述措施b)包括：

措施b1)，该措施用于对所述周期测量值曲线(M_P)进行长度标准化，以提供在相同长度上延伸的经长度标准化的周期测量值曲线(M_PL)。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述措施b1)包括：分别以对所有周期测量值曲线来说相同的预定数量的等距离的采样点(a₁、a₂、a₃)对所述周期测量值曲线(P_M)进行采样，并且根据包含在每个周期测量值曲线(M_P)中的采样结果，通过对所有周期测量值曲线(M_P)来说等距离的依次接连的、这些周期测量值曲线的采样结果的布置求出经长度标准化的周期测量值曲线(M_PL)。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述措施c)中，使用经长度标准化的或/和经移动的周期测量值曲线(M_PLV)求出平均的周期测量值曲线(M_mP)。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述措施c)包括：

措施c1)，该措施用于通过从多个周期测量值曲线(M_P)中产生平均值来提供平均值周期测量值曲线(M_MPM)。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述措施c)包括：

措施c1)，该措施用于通过从多个周期测量值曲线(M_P)中产生算术平均值来提供平均值周期测量值曲线(M_MPM)。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述措施c)包括：

措施c2)，该措施用于使多个平均值周期测量值曲线(M_MPM)相互接合并且用于使直接依次接连的平均值周期测量值曲线(M_MPM)在邻接位置处相互匹配，以提供在多个周期上连续延伸的平均值总测量值曲线(M_MGM)。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述措施c)包括：

措施c2)，该措施用于使多个平均值周期测量值曲线(M_MPM)相互接合并且用于使直接依次接连的平均值周期测量值曲线(M_MPM)在邻接位置处相互匹配，以提供在至少三个周期上连续延伸的平均值总测量值曲线(M_MGM)。