[发明专利]存储器信号相位调整方法有效

专利信息
申请号: 201510131522.X 申请日: 2009-11-27
公开(公告)号: CN104766625B 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 江勇志 申请(专利权)人: 晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司
主分类号: G11C11/406 分类号: G11C11/406
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 施浩
地址: 518057 广东省深圳市高新区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 触发信号 第一数据 动态随机存取存储器 存储器控制器 存储器信号 平移 测试数据 电子装置 相位调整 相位平移 验证结果 读取 数据存取 预定状态 写入 验证 响应 运作 应用
【权利要求书】:

1.一种存储器信号相位调整方法,应用于一电子装置中的一存储器控制器和一动态随机存取存储器之间的数据存取,该相位调整方法包含下列步骤:

根据该电子装置呈现一预定状态时,由该存储器控制器对该动态随机存取存储器写入一测试数据;

由该存储器控制器接收该动态随机存取存储器依据该测试数据产生的一第一数据触发信号;

将该第一数据触发信号进行相位平移,以对该测试数据进行读取,并验证以产生一验证结果;

产生一目标平移值,以响应于该验证结果;以及

将该第一数据触发信号的相位平移该目标平移值;

其中所述产生该目标平移值的步骤包括:

根据该验证结果记录多个相位平移的数值;以及

根据该第一数据触发信号的相位平移达一预定限制时,对所记录的该些相位平移的数值进行一数值运算而得到该目标平移值。

2.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,产生该目标平移值的步骤包括:

根据该验证结果记录多个相位平移的数值,以产生一记录结果;以及

根据该记录结果,产生该目标平移值。

3.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,该预定状态处于该电子装置的运作时的一初始阶段。

4.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其中该预定状态代表一开机自我测试阶段。

5.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,该预定状态为该电子装置于运作时,该电子装置内的一温度传感器所感测的温度呈现为过热,且该存储器控制器并无对该动态随机存取存储器进行存取。

6.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,该电子装置为一数字影音装置,该预定状态为一垂直遮没期间。

7.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,该数值运算为一算数平均运算。

8.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,该数值运算为一权重运算。

9.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,该预定限制为于一预定平移尺度下的相位平移的次数上限。

10.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,记录该些相位平移的数值的步骤是当该第一数据触发信号能正确读取该测试数据时,将所进行相位平移的数值定义出一可运作相位范围。

11.如权利要求1所述的存储器信号相位调整方法,其特征在于,该产生该验证结果的步骤包含:

当验证该测试数据呈现错误时,将该第一数据触发信号进行相位平移,并再对该测试数据进行读取;以及

当验证该测试数据呈现正确时,记录其相位平移的数值,并再将该第一数据触发信号进行相位平移,以再对该测试数据进行读取。

12.一种存储器信号相位调整方法,应用于一电子装置中的一存储器控制器和一动态随机存取存储器之间的数据存取,该相位调整方法包含下列步骤:

根据该电子装置呈现一预定状态时,由该存储器控制器对该动态随机存取存储器写入一测试数据;

由该存储器控制器接收该动态随机存取存储器依据该测试数据产生的一第一数据触发信号;

将该第一数据触发信号进行相位平移,以对该测试数据进行读取,并验证以产生一验证结果;

产生一目标平移值,以响应于该验证结果;以及

将该第一数据触发信号的相位平移该目标平移值;

其中所述产生该目标平移值的步骤包括:

根据该验证结果记录一相位平移的数值;以及

将所记录的该相位平移的数值进行一数值运算而得到该目标平移值。

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