[发明专利]ICP发光分光分析装置

权利要求书

1.一种ICP发光分光分析装置，具备：

感应耦合等离子体发生部，通过感应耦合等离子体对分析对象的元素进行原子化或离子化，得到原子发光线；

聚光部，对所述原子发光线进行聚光；

分光器，在经由入射窗取入了所述原子发光线之后，进行分光以进行检测；

检测器，检测通过了所述分光器的光；

检测器控制部，对被施加于所述检测器的电压和该电压的施加时间进行控制；以及

输入部，受理与所述分析对象的元素相应的分析条件的操作输入，

在所述ICP发光分光分析装置中，所述检测器控制部在从向所述输入部输入分析条件之后起直到把包括分析对象的元素的样本导入到所述感应耦合等离子体发生部之前为止的期间中，基于与根据在所述分析条件下施加于所述检测器的分析电压和该分析电压的分析电压施加时间求出的假定电力量相应的空转电压和该空转电压的空转电压施加时间，来控制所述检测器。

2.根据权利要求1所述的ICP发光分光分析装置，

所述检测器控制部按变为与根据所述分析电压和所述分析电压施加时间确定的电压施加周期相同的电压施加周期那样来对所述空转电压和所述空转电压施加时间进行设定。

3.根据权利要求1所述的ICP发光分光分析装置，

所述检测器控制部设定具有与所述分析电压中的高电压和低电压以及各自的施加时间比例相同的高电压和低电压以及各自的施加时间比例的所述空转电压和所述空转电压施加时间。

4.根据权利要求1所述的ICP发光分光分析装置，

所述检测器控制部把成为与根据所述分析电压和所述分析电压施加时间确定的平均电力量相同的电力量那样的固定电压设定为所述空转电压。