[发明专利]一种单相可控并联电抗器动态特性测试系统在审
申请号: | 201510150181.0 | 申请日: | 2015-03-31 |
公开(公告)号: | CN104777379A | 公开(公告)日: | 2015-07-15 |
发明(设计)人: | 李琳;杨光;贾青;袁晓冬;史明明 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学;江苏省电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 张文宝 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单相 可控 并联 电抗 动态 特性 测试 系统 | ||
1.一种单相可控并联电抗器动态特性测试系统,所述单相可控并联电抗器为单相三绕组结构,包括一次绕组、二次绕组和滤波绕组,一次绕组通过其出线断路器和交流电源相连,二次绕组通过其出线断路器和两个反并联晶闸管相连,滤波绕组通过其出线断路器和滤波器组相连,其特征在于:
由单片机控制器在时序上分别动态独立控制两个反并联晶闸管的导通角,并由单片机控制器在时序上分别动态独立控制三个绕组结构的出线断路器的开合。
2.根据权利要求1所述的一种单相可控并联电抗器动态特性测试系统,其特征在于,所述单片机控制器与上位机连接,实现双向通信,通过上位机实现对反并联晶闸管导通角和出线断路器开合的动态控制。
3.根据权利要求2所述的一种单相可控并联电抗器动态特性测试系统,其特征在于,所述单片机控制器与上位机通过USB接口连接。
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