[发明专利]液晶面板的像素缺陷修复方法及液晶面板

说明书

本发明提供一种液晶面板的像素缺陷修复方法，包括：提供一液晶面板，该液晶面板包括多个像素单元，每一所述像素单元包括一主像素和一子像素，多个所述像素单元中的至少一个具有待修复的主像素缺陷或子像素缺陷；判断具有缺陷的像素单元的缺陷类型并进行暗点化修复，当缺陷类型为主像素缺陷时，采用第一修复方法进行暗点化修复；当缺陷类型为子像素缺陷时，采用第二修复方法进行暗点化修复。本发明还提供一种液晶面板。液晶面板的像素缺陷修复方法能有效缩减液晶面板的暗点化修复工序，节省生产成本，提升产品品质。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板的像素缺陷修复方法及一种液晶面板。

背景技术

薄膜晶体管型液晶显示屏(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD)为每个像素单元都设有一个半导体开关，每个半导体开关都可以通过点脉冲直接控制，因而每个像素单元都相对独立，并可以连续控制，从而使得TFT-LCD具有较高的反应速度，同时可以精确控制显示色阶，显示色彩也更逼真。目前，随着TFT-LCD显示技术的不断成熟，TFT-LCD液晶面板的视角、色彩饱和度、亮度等问题逐渐得到解决，进一步加快了TFT-LCD液晶面板在显示领域的应用。

对于液晶面板来说，可视角度是关系到相关液晶显示产品用户体验的一项重要参数。为增加可视角度，大尺寸的TFT-LCD液晶面板的像素结构通常采用三个薄膜晶体管来控制一个像素单元内的主像素和子像素的液晶电容具备不同的电压，进而改善大视角下的色偏，提高显示品质。图1是现有技术中TFT-LCD液晶面板的一个像素单元的等效电路示意图，其中，当第一栅极线输入高电平、第二栅极线输入低电平时，第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2导通，电荷分别被送至第一存储电容C_st1和第二存储电容C_st2。当第一栅极线输入低电平、第二栅极线输入高电平时，第三薄膜晶体管T3导通，使得第二存储电容C_st2中的部分电荷释放到第一分压电容C_cs1和第二分压电容C_cs2中，从而使得第一液晶电容C_lc1和第二液晶电容C_lc2具有不同的电荷量，形成电压差，最终达到降低色偏的目的。

在TFT-LCD液晶面板的生产过程中，难免会出现一个或多个有缺陷的像素。为提升TFT-LCD液晶面板的产品良率，目前常用的方法就是对所述一个或多个有缺陷的像素进行暗点化修复。当TFT-LCD液晶面板的一个像素单元出现缺陷时，现有技术中对缺陷像素的处理方式通常是针对三个薄膜晶体管进行整体暗点化修复。如图1所示，通过将第一至第三薄膜晶体管T1、T2、T3之间的源极s、漏极d的连接线切断(如图1中x所示)，并将第一存储电容C_st1和第二存储电容C_st2两端焊接短路(如图1中▃所示)，以实现将整个像素单元修复为常暗点。然而，采用整体暗点化的方法无疑会增加缺陷修复的工序，浪费产能。同时，整体暗点化修复过后TFT-LCD液晶面板形成的暗点较大，也会在一定程度上影响其显示品质。

发明内容

本发明提供一种液晶面板的像素缺陷修复方法，通过对缺陷像素单元内的主像素和子像素单独进行暗点化修复，以节省修复工序，并能缩小缺陷修复所形成的暗点尺寸。

另，本发明还提供一种液晶面板，通过对该液晶面板的缺陷像素单元内的主像素和子像素单独进行暗点化修复，以节省修复工序，并能缩小缺陷修复所形成的暗点尺寸。

一种液晶面板的像素缺陷修复方法，包括如下步骤：

提供一液晶面板，该液晶面板包括多个像素单元，每一所述像素单元包括一主像素和一子像素，多个所述像素单元中的至少一个具有待修复的主像素缺陷或子像素缺陷；

判断具有缺陷的像素单元的缺陷类型并进行暗点化修复，当缺陷类型为主像素缺陷时，采用第一修复方法进行暗点化修复；当缺陷类型为子像素缺陷时，采用第二修复方法进行暗点化修复。