[发明专利]阵列基板、显示装置及用于制备阵列基板的方法在审
申请号: | 201510167361.X | 申请日: | 2015-04-10 |
公开(公告)号: | CN104752489A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 徐向阳 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L23/552 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 朱绘;张文娟 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 显示装置 用于 制备 方法 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括:
衬底基板;
位于所述衬底基板上的吸光层;以及
位于所述吸光层上的底栅型薄膜晶体管单元;
其中,所述吸光层的投影覆盖所述底栅型薄膜晶体管单元的栅极金属层、源极金属层和漏极金属层。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述吸光层的投影还覆盖所述底栅型薄膜晶体管单元的有源层。
3.根据权利要求1或2所述的阵列基板,其特征在于,所述吸光层为有机吸光层。
4.根据权利要求1或2所述的阵列基板,其特征在于,所述底栅型薄膜晶体管单元包括:
位于所述吸光层上的所述栅极金属层;
位于所述栅极金属层上的栅极绝缘层;
位于所述栅极绝缘层上的有源层;
位于所述有源层上的刻蚀阻挡层,其上开设有第一过孔和第二过孔;以及
位于所述刻蚀阻挡层上的所述源极金属层和所述漏极金属层,所述源极金属层和所述漏极金属层分别通过所述第一过孔和所述第二过孔连接所述有源层。
5.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求1至4中任一项所述的阵列基板。
6.根据权利要求5所述的显示装置,其特征在于,还包括:
位于所述阵列基板上的钝化层;
位于所述钝化层上的像素电极层;
位于所述像素电极层上的像素绝缘层;
位于所述像素绝缘层上的有机层;
位于所述有机层上的阴极金属层;以及
位于所述阴极金属层上的封装盖板。
7.一种用于制备阵列基板的方法,其特征在于,包括:
提供衬底基板;
在所述衬底基板上形成吸光层和底栅型薄膜晶体管单元,并使所述吸光层的投影覆盖所述底栅型薄膜晶体管单元的栅极金属层、源极金属层和漏极金属层。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于:在所述衬底基板上形成吸光层和底栅型薄膜晶体管单元,包括在所述衬底基板上形成所述吸光层和所述栅极金属层;在所述衬底基板上形成所述吸光层和所述栅极金属层,包括:
在所述衬底基板上依次沉积吸光层和栅极金属层;
在所述栅极金属层上涂布光刻胶;
采用灰色调或半色调掩模板对所述光刻胶进行曝光和显影,形成未曝光光刻胶形貌、部分曝光光刻胶形貌和完全曝光区域;
通过第一次刻蚀工艺去掉暴露在光刻胶外面的栅极金属层和吸光层;
通过第一次灰化工艺去掉除所述未曝光光刻胶形貌以外的光刻胶;
通过第二次刻蚀工艺去掉未曝光光刻胶形貌以外区域的栅极金属层;
通过第二次灰化工艺去掉剩余的光刻胶。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于:采用灰色调或半色调掩模板对所述光刻胶进行曝光和显影,形成未曝光光刻胶形貌、部分曝光光刻胶形貌和完全曝光区域,具体为:
采用灰色调或半色调掩模板对所述光刻胶进行曝光,使光刻胶形成未曝光区域、部分曝光区域和所述完全曝光区域,通过显影完全去掉所述完全曝光区域的光刻胶,部分去掉所述部分曝光区域的光刻胶以形成所述部分曝光光刻胶形貌,保留未曝光区域的光刻胶以形成所述未曝光光刻胶形貌。
10.根据权利要求8或9所述的方法,其特征在于,在所述衬底基板上形成吸光层和底栅型薄膜晶体管单元,还包括:
在所述栅极金属层上形成栅极绝缘层;
在所述栅极绝缘层上形成有源层;
在所述有源层上形成刻蚀阻挡层,并使所述刻蚀阻挡层上开设有第一过孔和第二过孔;
在所述刻蚀阻挡层上形成所述源极金属层和所述漏极金属层,并使所述源极金属层和所述漏极金属层分别通过所述第一过孔和所述第二过孔连接所述有源层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的