[发明专利]基于二维正交曲率的柔性板状结构复杂形态重建方法有效
申请号: | 201510174189.0 | 申请日: | 2015-04-14 |
公开(公告)号: | CN104949628B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 朱晓锦;张合生;高志远;李明东;刘凯宁;耿路 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙)31205 | 代理人: | 顾勇华 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 二维 正交 曲率 柔性 结构 复杂 形态 重建 方法 | ||
1.一种基于二维正交曲率的柔性板状结构复杂形态重建方法,其特征在于:具体操作步骤如下:
(1)正交曲线网的建立:利用优化设计的离散分布式正交光纤光栅构成传感网络,通过获取板状结构表面各光栅测点的二维正交曲率信息,并在曲率连续化的基础上,对板状结构进行网格划分,建立板状结构的正交曲线网;
(2)节点坐标递推:在正交曲线网上构建运动坐标系,利用运动坐标系计算运动坐标系下测量点的相对坐标,并在此基础上计算其全局坐标;
(3)运动坐标系耦合变换:为实现节点坐标的递推,需要首先获取两个方向运动坐标系的扭转角,利用扭转角实现运动坐标系的更新。
2.根据权利要求1所述的一种基于二维正交曲率的柔性板状结构复杂形态重建方法,其特征在于所述步骤(1)正交曲线网的建立,具体步骤如下:
曲率连续化:由于光栅测点的有限性和离散性,直接进行拟合重构无法精确反映板状结构的形变,对未测点进行合理插值,实现曲率的连续化;所采用的插值算法为线性插值算法;
正交曲线网构建:在曲率连续化的基础上,选取两两间距Δs相等的测量点,并分别从二维空间的坐标轴u方向和v方向,将测量点连接,形成正交的等弧长网格;测量点的正交曲率分别为沿u方向的曲率和沿v方向的曲率,分别用ρu(n)和ρv(m)表示,(n,m)为点的序号,所描述的为等弧长网格,在板状结构形变后成为正交曲线网。
3.根据权利要求2所述的一种基于二维正交曲率的柔性板状结构复杂形态重建方法,其特征在于所述步骤(2)节点坐标递推的具体步骤如下:
运动坐标系构建:假设正交曲线网的每段弧为圆弧,在正交曲线网的u方向和v方向曲线上分别建立运动坐标系,使每段圆弧都在其所在的运动坐标系的xoy平面内,过原点且与x轴相切;计算运动坐标系下的测量点相对坐标:设在点p(n)和点p(n+1)之间的弧为圆弧,用p(n).x、p(n).y、p(n).z分别表示点p(n)的三个坐标值,则在点p(n)所在的运动坐标系内,可得点p(n+1)的相对坐标p'(n+1)为:
上式中,θ(n)=ρ(n)·Δs;其中,ρ(n)为点p(n)的曲率;
全局坐标的求解
全局坐标的求解按照下式进行:
上式中,其中Az(θ(i))分别为:
称为扭转角,变换的具体过程为:首先坐标原点由点p(n)移动至p(n+1),然后绕其z轴旋转角度θ(n),最后绕其x轴旋转角度可根据两个正交方向的曲率耦合关系求得扭转角
4.根据权利要求1所述的一种基于二维正交曲率的柔性板状结构复杂形态重建方法,其特征在于所述步骤(3)运动坐标系耦合变换的具体步骤如下:
扭转角获取:
同时在u、v两个方向建立运动坐标系;u方向的运动坐标系和v方向的运动坐标系,随着其所在曲线运动并交汇于正交曲线网各节点;若点p'u(n+1)和p'v(m+1)是点pu(n)和pv(m)所在的运动坐标系内的点,点puv为相应的节点;为简化实现,将点p'u(n+1)和p'v(m+1)的中点作为节点puv的有效值;节点puv求得后,u方向和v方向的运动坐标系将沿着曲线汇集到节点puv,由于节点puv处的两条曲线正交,因此其对应坐标轴应当重合,由此可确定两个运动坐标系的扭转角;
首先将两个坐标系的x轴和y轴,绕各自的Z轴分别旋转角度θu(n)和θv(m),得到两个坐标系用(X'u(n),Y'u(n),Z'u(n))和(X'v(m),Y'v(m),Z'v(m))表示,其中向量X'u(n)表示u方向运动坐标系的X轴,依此类推;若用T(X'u(n),Y'u(n),Z'u(n))表示某个向量在坐标系(X'u(n),Y'u(n),Z'u(n))中的相对坐标,则可求得两个坐标系的扭转角为:
运动坐标系更新
两个坐标系还应当绕其y轴旋转角度γ以确保对应坐标轴重合:
由此可得u方向新的运动坐标系如下式所示:
同理,可得v方向新的运动坐标系:
其中绕y轴的旋转角度α矩阵如下所示:
由此,在节点Puv处两个运动坐标系的耦合变换完成,依次类推可求得各节点坐标系的耦合变换参数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学,未经上海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510174189.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:物体表面形状三维扫描系统
- 下一篇:用于光学测量装置的校正设备及校正方法