[发明专利]一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置

权利要求书

1.一种驱动芯片，包括第一内部接口和第二内部接口，其特征在于，还包括用于进行短路检测的测试电路；所述测试电路包括输入单元以及测试单元；

所述输入单元分别连接测试信号输入端、所述测试单元以及所述第一内部接口，用于在导通状态下，将所述测试信号输入端输入的测试信号，传输至所述测试单元以及所述第一内部接口；

所述测试单元分别连接所述第二内部接口以及测试信号输出端，用于在断开状态下，阻断所述输入单元输出的信号由所述测试单元向所述测试信号输出端及所述第二内部接口输出。

2.根据权利要求1所述的驱动芯片，其特征在于，还包括：

输出单元，所述输出单元在所述测试信号输出端以及所述第二内部接口之间，用于在导通状态下，将所述第二内部接口处的电压或所述测试单元输出的信号输出至所述测试信号输出端。

3.根据权利要求1所述的驱动芯片，其特征在于，所述输入单元包括第一开关，其一端连接所述测试信号输入端，另一端与所述测试单元相连接。

4.根据权利要求2所述的驱动芯片，其特征在于，所述输出单元包括第二开关，其一端连接所述测试信号输出端，另一端与所述测试单元相连接。

5.根据权利要求2-4任一项所述的驱动芯片，其特征在于，所述测试单元包括至少一个测试开关，所述第一开关通过所述测试开关与所述第二开关串联；

每相邻两个串联的测试开关之间连接有一个第三内部接口。

6.根据权利要求3所述的驱动芯片，其特征在于，所述输入单元还包括：设置于所述测试信号输入端与所述第一开关之间的限流电阻。

7.根据权利要求5所述的驱动芯片，其特征在于，所述测试电路还包括设置于所述第一内部接口与所述第一开关之间、所述第二内接口与所述第二开关之间，或者所述第三内部接口与所述相邻两个串联的测试开关之间的控制开关，用于控制向所述第一内部接口、所述第二内部接口或所述第三内部接口输入信号的通断。

8.根据权利要求1所述的驱动芯片，其特征在于，还包括驱动电路，分别连接所述测试信号输出端、驱动信号输出端、使能信号端以及供电电压端，用于在所述使能信号端和所述测试信号输出端的控制下，将所述供电电压端的电压输入至所述驱动信号输出端。

9.根据权利要求8所述的驱动芯片，其特征在于，所述驱动电路包括：第一晶体管和第二晶体管；

所述第一晶体管的栅极连接所述时能信号端，第一极连接所述测试信号输出端，第二极与所述第二晶体管的栅极相连接；

所述第二晶体管的第一极连接所述供电电压端，第二极与所述驱动信号输出端相连接；

所述第一晶体管为N型或P型晶体管；

所述第二晶体管为P型晶体管。

10.一种驱动板，其特征在于，包括至少一个如权利要求1-9任一项所述的驱动芯片，以及位于所述驱动板扣合位置的外部接口，每个所述驱动芯片的一个内部接口与一个所述外部接口相连接。

11.根据权利要求10所述的驱动板，其特征在于，包括第一驱动芯片和第二驱动芯片；还包括或非门和反相器；

所述或非门的第一输入端与第一驱动芯片的测试信号输出端相连接，第二输入端与第二驱动芯片的测试信号输出端相连接，输出端与所述反相器的输入端相连接，所述反相器的输出端连接所述驱动板的反馈信号输出端。

12.一种用于测试如权利要求10或11所述的驱动板的测试方法，其特征在于，所述包括：

导通输入单元，断开测试单元；

测试信号输入端输入测试信号；

当所述测试信号输出端输出第一电压时，所述驱动板上的驱动芯片中至少两个内部接口之间发生短路；当所述测试信号输出端输出第二电压时，所述驱动板上的驱动芯片的内部接口之间未发生短路；其中，所述第一电压大于第二电压。