[发明专利]一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示驱动领域，尤其涉及一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置。

背景技术

TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管-液晶显示器)作为一种平板显示装置，因其具有体积小、功耗低、无辐射以及制作成本相对较低等特点，而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。

TFT-LCD显示装置，可以包括LCM(Liquid Crystal Module，液晶显示模组)，所述LCM包括液晶显示面板、外围驱动电路、如图1所示的控制电路板11、背光模组等部件。其中，所述控制电路板11上设置有显示驱动电路，可以输入的控制信号，以使得显示装置进行画面显示。所述控制电路板11可以包括多个驱动芯片IC，每个驱动芯片上设置有过个I/O接口100，从而使得上述控制信号能够通过I/O接口100进行输出。

然而现有技术中，对于小型显示装置，例如手机、掌上电脑等，由于受到结构尺寸的限制，在设计过程中会减小上述I/O接口100的尺寸，以及相邻两个I/O接口100之间的距离。这样一来，由于I/O接口100的制作公差，可能导致相邻两个I/O接口100重叠而直接接触从而造成短路，若不能及时发现该短路问题，则会导致电路烧毁等不良现象的产生，严重影响产品的质量。

发明内容

本发明的实施例提供一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置，能够检测出驱动芯片上的接口是否发生短路。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明实施例的一方面，提供一种驱动芯片，包括第一内部接口和第二内部接口，还包括用于进行短路检测的测试电路；所述测试电路包括输入单元以及测试单元；

所述输入单元分别连接测试信号输入端、所述测试单元以及所述第一内部接口，用于在导通状态下，将所述测试信号输入端输入的测试信号，传输至所述测试单元以及所述第一内部接口；

所述测试单元分别连接所述第二内部接口以及测试信号输出端，用于在断开状态下，阻断所述输入单元输出的信号由所述测试单元向所述测试信号输出端及所述第二内部接口输出。

本发明实施例的另一方面，提供一种驱动板，包括如上所述的任意一种驱动芯片，以及位于所述驱动板扣合位置的外部接口，每个所述驱动芯片的一个内部接口与一个所述外部接口相连接。

本发明实施例的另一方面，提供一种用于驱动上述驱动板的测试方法，包括：

导通输入单元，断开测试单元；

测试信号输入端输入测试信号；

当所述测试信号输出端输出第一电压时，所述驱动板上的驱动芯片中至少两个内部接口之间发生短路；当所述测试信号输出端输出第二电压时，所述驱动板上的驱动芯片的内部接口之间未发生短路；其中，所述第一电压大于第二电压。

本发明实施例的又一方面，提供一种显示装置，包括如上所述的驱动板。

本发明实施例提供一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置。其中驱动芯片可以包括第一内部接口和第二内部接口，还包括用于进行短路检测的测试电路。所述测试电路包括输入单元以及测试单元。输入单元分别连接测试信号输入端、测试单元以及第一内部接口，用于在导通状态下，将测试信号输入端输入的测试信号，传输至测试单元以及第一内部接口。所述测试单元分别连接第二内部接口以及测试信号输出端，用于在断开状态下，阻断所述输入单元输出的信号由所述测试单元向所述测试信号输出端及所述第二内部接口输出。

再次情况下，当测试信号输入端输入测试信号，该测试信号为第一电压，例如高电平时，输入单元输出的信号会传送至第一内部接口，还会通过测试单元传输至测试信号输出端。此时将测试单元断开，那么输入开关单元输出的信号只能传送至第一内部接口，而无法通过测试单元到达测试信号输出端，在此情况下测试信号输出端应该输出第二电压，例如低电平。如果此时测试信号输出端输出高电平，则证明驱动芯片上的至少两个内部接口之间发生了短路，使得输入单元输出的信号到达第一内部接口后，通过上述发生短路的内部结构形成的信号传输路径传输至第二内部接口，在由第二内部接口传输至测试信号输出端，从而使得与该测试出口输出高电平。因此通过上述测试电路，在将测试单元断开的情况下，通过判断测试信号输出端是否为高电平，就可以判断出驱动芯片上的内部接口之间是否发生了短路。这样一来，在驱动芯片工作之前，可以通过该驱动芯片上的测试电路测试该驱动芯片上的内部接口之间是否存在短路，如果发生短路。从而避免了驱动芯片在工作过程中，由于内部接口短路而导致电路烧毁的不良现象。