[发明专利]半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序在审
申请号: | 201510182994.8 | 申请日: | 2015-04-17 |
公开(公告)号: | CN105045443A | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 漆贵弘 | 申请(专利权)人: | 拉碧斯半导体株式会社 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 秦琳;陈岚 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 显示 系统 检测 方法 以及 程序 | ||
1.一种半导体装置,其中,
具备检测部,所述检测部取得由将从静电电容型的触摸面板输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号,比较所述输出信号和基准信号,在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下,基于所述输出信号的时间变化,检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,
所述检测部在所述输出信号距所述基准信号的变化量为比所述第一阈值小的第二阈值以下的情况下,基于所述输出信号的时间变化,对向所述触摸面板的接触状态为非接触进行检测。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的半导体装置,其中,
所述时间变化为所述输出信号的振幅的最大值与最小值的差,
所述检测部在该差超过第三阈值的情况下,检测出向所述触摸面板的接触状态为接触。
4.根据权利要求1至权利要求3的任意一项所述的半导体装置,其中,
所述时间变化为所述输出信号的振幅的最大值与最小值的差,
所述检测部在该差为不足第四阈值的情况下,检测出向所述触摸面板的接触状态为非接触。
5.根据权利要求3所述的半导体装置,其中,
所述时间变化为所述输出信号的振幅的最大值与最小值的差,
所述检测部在该差为不足比所述第三阈值小的第四阈值的情况下,检测出向所述触摸面板的接触状态为非接触。
6.根据权利要求1至权利要求5的任意一项所述的半导体装置,其中,
所述检测部对从所述模拟数字变换部取得的所述输出信号的移动平均和所述基准信号进行比较。
7.权利要求1至权利要求6的任意一项所述的半导体装置,其中,
所述基准信号是在所述触摸面板中以非接触的状态预先取得的信号。
8.一种显示系统,其中,具备:
显示部,基于图像信号显示图像;
静电电容型的触摸面板;
模拟数字变换部,输出将从所述触摸面板输出的检测信号变换为数字信号的输出信号;以及
根据所述权利要求1至所述权利要求6的任意一项所述的半导体装置,取得从所述模拟数字变换部输出的输出信号,检测对所述触摸面板的接触状态。
9.一种检测方法,其中,具备:
通过检测部取得由将从静电电容型的触摸面板输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号的步骤;以及
通过所述检测部比较所述输出信号和基准信号而在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下基于所述输出信号的时间变化来检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触的步骤。
10.一种检测程序,其中,使计算机执行处理,所述处理包含:
取得由将从静电电容型的触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号;
比较所述输出信号和基准信号,在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下,基于所述输出信号的时间变化,检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。
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