[发明专利]半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序

说明书

技术领域

本发明涉及半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。

背景技术

通常，作为触摸面板，使用静电电容型的触摸面板。进行检测用户对触摸面板的接触状态。

已知由于荧光灯或其它的电磁波等干扰噪声的影响而进行错误工作。因此，存在减少干扰噪声的技术。（例如，参照专利文献1。）。

此外，已知在触摸面板表面出现水滴的情况下进行错误工作。因此，存在减少该错误工作的技术（例如，参照专利文献2）。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011–8724号公报；

专利文献2：日本特开2008-112334号公报。

发明要解决的问题

然而，在上述专利文献1所记载的技术中，以检测信号成为包含起因于外部接近物体的存在的正负非对称的信号分量的极性交变信号的方式进行驱动信号的施加控制，当不使用极性交变信号时不谋求干扰噪声的减少。

此外，在专利文献2所记载的技术中，例如，在用于便携式终端的情况下，存在当触摸面板振动时由于水滴活动所以进行错误工作的担忧。

发明内容

本发明是为了解决上述的问题而提出的，其目的在于，提供一种即使在由于噪声导致检测信号发生变化的情况下也能够精度良好地检测对触摸面板的接触状态的半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。

用于解决课题的方案

为了达成上述目的，本发明的半导体装置具备检测部，所述检测部取得由将从静电电容型的触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号，比较所述输出信号和基准信号，在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下，基于所述输出信号的时间变化，检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。

本发明的显示系统具备：显示部，基于图像信号显示图像；静电电容型的触摸面板；模拟数字变换部，输出将从所述触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的输出信号；以及本发明的半导体装置，取得从所述模拟数字变换部输出的输出信号，检测对所述触摸面板的接触状态。

本发明的检测方法具备：通过检测部取得由将从静电电容型的触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号的步骤；以及通过所述检测部比较所述输出信号和基准信号而在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下基于所述输出信号的时间变化来检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触的步骤。

本发明的检测程序使计算机执行处理，所述处理包含：取得由将从静电电容型的触摸面板的接触检测用的电极输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号；比较所述输出信号和基准信号，在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下，基于所述输出信号的时间变化，检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。

发明效果

根据本发明，起到以下这样的效果：即使在由于噪声导致检测信号发生变化的情况下，也能够精度良好地检测对触摸面板的接触状态。

附图说明

图1是示出本实施方式的显示系统的一个例子的概略结构图。

图2是用于说明从A/D变换部输出的输出信号从接触向非接触的变化的波形图的具体例。

图3是将静电电容型的触摸面板接近至距荧光灯5cm的位置并将该荧光灯的开关设为接通状态的情况下的从A/D变换部输出的输出信号的波形图的具体例。

图4是对图3所示的波形求取移动平均的移动平均值的波形图的具体例。

图5是对本实施方式的触摸面板的接触状态为非接触的情况下的输出信号的波形图的具体例。

图6是对本实施方式的触摸面板的接触状态为接触的情况下的输出信号的波形图的具体例。

图7是由本实施方式的检测部执行的检测处理的一个例子的流程图。

图8是用于说明本实施方式的触摸面板中的接触状态的变化的输出信号的波形图的具体例。

图9是在本实施方式的触摸面板的接触状态为非接触的情况下产生上述的那样的干扰噪声的情况下的输出信号的波形图的具体例。

具体实施方式

在以下，参照附图对本实施方式详细地进行说明。

首先，对本实施方式的显示系统的结构进行说明。在图1中示出本实施方式的显示系统的概略结构图。